Виявлення дефектів паяння за допомогою термографії
Loading...
Files
Date
2019
Advisor
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
КПІ ім. Ігоря Сікорського
Abstract
Description
Keywords
термографія, SMD-компоненти, реакційне паяння
Citation
Виявлення дефектів паяння за допомогою термографії / Я. Д. Мамчур, В. В. Іванова, Г. Є. Монастирський, Т. В. Мельниченко // XVII Всеукраїнська науково-практична конференція студентів, аспірантів та молодих вчених «Теоретичні і прикладні проблеми фізики, математики та інформатики» (Україна, м. Київ, 25-26 квітня 2019 р.) : матеріали конференції. – Київ : КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2019. – С. 37–40. – Бібліогр.: 5 назв.