In situ control of roughness of finishing processing nonmetallic material

dc.contributor.authorFilatov, Yuriy D.
dc.contributor.authorFilatov, Olexandr Yu.
dc.contributor.authorYashchuk, Vasil P.
dc.contributor.authorHeisel, Uwe
dc.contributor.authorStorchak, Michael
dc.contributor.authorMonteil, Guy
dc.contributor.authorФілатов, Ю. Д.
dc.contributor.authorФілатов, О. Ю.
dc.contributor.authorЯщук, В. П.
dc.contributor.authorХайзель, У.
dc.contributor.authorСторчак, М.
dc.contributor.authorМонтей, Г.
dc.contributor.authorФилатов, Ю. Д.
dc.contributor.authorФилатов, А. Ю.
dc.contributor.authorЯщук, В. П.
dc.contributor.authorХайзель, У.
dc.contributor.authorСторчак, М.
dc.contributor.authorМонтей, Г.
dc.date.accessioned2013-10-10T11:39:33Z
dc.date.available2013-10-10T11:39:33Z
dc.date.issued2010
dc.description.abstractenThe optical monitoring system for finishing processing surfaces is described. The relation of intensity of the beam reflected from a surface, to intensity of a falling beam allows to estimate a reflexion index in situ. Increase of reflexion index in process of roughness decrease is established.uk
dc.description.abstractruОписана схема установки для мониторинга поверхности в процессе полирования, осуществляемого при помощи оптических методов. Отношение интенсивности луча, отраженного от поверхности, к интенсивности падающего луча позволяет оценивать коэффициент отражения света in situ. Установлено, что в процессе уменьшения шероховатости поверхности ее коэффициент отражения увеличивается.uk
dc.description.abstractukОписано схему обладнання для моніторингу поверхні в процесі полірування, що здійснюється за допомогою оптичних методів. Відношення інтенсивності променю, що відбивається від поверхні, до інтенсивності падаючого променю дозволяє оцінити коефіцієнт відбивання in situ. Встановлено, що в процесі зменшення шорсткості поверхні її коефіцієнт відбивання збільшується.uk
dc.format.pagerangePp. 100-105uk
dc.identifier.citationIn situ control of roughness of finishing processing nonmetallic material / Yuriy D. Filatov, Olexandr Yu. Filatov, Vasil P. Yashchuk, Uwe Heisel, Michael Storchak, Guy Monteil // Вісник НТУУ «КПІ». Приладобудування : збірник наукових праць. – 2010. – Вип. 40. – С. 100–105. – Бібліогр.: 4 назви.uk
dc.identifier.urihttps://ela.kpi.ua/handle/123456789/4330
dc.language.isoenuk
dc.publisherНТУУ "КПІ"uk
dc.publisher.placeКиївuk
dc.sourceВісник НТУУ «КПІ». Приладобудування: збірник наукових працьuk
dc.status.pubpublisheduk
dc.subjectprecision surfaceen
dc.subjectin situ quality controlen
dc.subjectreflectometryen
dc.subjectroughnessen
dc.subjectнадточна поверхняuk
dc.subjectin situ контроль якостіuk
dc.subjectшорсткістьuk
dc.subjectпрецизионная поверхностьru
dc.subjectin situ контроль качестваru
dc.subjectшероховатостьru
dc.subject.udc621.923uk
dc.titleIn situ control of roughness of finishing processing nonmetallic materialuk
dc.title.alternativeIn situ контроль шорсткості при фінішній обробці неметалевих матеріалівuk
dc.title.alternativeIn situ контроль шероховатости при финишной обработке неметаллических материаловuk
dc.typeArticleuk
thesis.degree.level-uk

Файли

Контейнер файлів
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Вантажиться...
Ескіз
Назва:
razd_7-1.pdf
Розмір:
304.42 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Ліцензійна угода
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
1.71 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис: