Забезпечення робочого режиму радіоелектронних компонентів в методі власного випромінювання
| dc.contributor.author | Кузавков, Василь | |
| dc.contributor.author | Kuzavkov, Vasiliy | |
| dc.contributor.author | Кузавков, Василий | |
| dc.date.accessioned | 2016-11-04T14:51:40Z | |
| dc.date.available | 2016-11-04T14:51:40Z | |
| dc.date.issued | 2015 | |
| dc.description.abstracten | In basis of application of method of own radiation for the wares of radio electronics lies presence of direct connection of resource of work of the REC with his temperature. For the row of components (transistors, diodes, oxide cathodes, resistors) there are the expected statistical dependences. Application of the method of own radiation is possible even on the standards of radio electronics adjusted not enough to diagnose on the places of their exploitation. With the help of this method are determined by the components that have worked for a long time and are abandoned before the state, which leads to increased availability ratio of REE and to reduce the cost of software lifecycle. The operationability of method evidently shows up at research of large number of the same type digital blocks (REC). The analysis of sources showed that the thermal fields of the same type wares well correlated, and the use of method of own radiation in the system of diagnostics allows to carry out high-performance non contact diagnostics with the use of computer technique for treatment of the got results. A diagnostic parameter in a method is a temperature of surface of the REC, changes under the action of the specially built verification test sequence, registers one self in accordance with the method of transfer of thermal energy (heat conductivity, convection, thermal radiation) and can be presented by not only the set of numerical values but also as two-dimensional (three-dimensional) thermograms. After forming of set of informing signs application of the computing engineering and algorithms of recognition is possible. The process of localization of place of disrepair in a digital block is related to determination of defective component by registration and treatment of diagnostic parameter – thermal response on entrance test sequences for this component. Use of method of own radiation, it is impossible without creation of diagnostic models, that represent connection of DP with physical and chemical properties not only the REC but also protective layer that covers the semiconductor crystal of the REC. For the construction of model of transfer of heat from a "warmed-up" crystal on the surface of the REC (task of non-stationary heat conductivity) the analysis of technology of making and structure is conducted modern semiconductor the REC. The aim of the article are determinations of time of display of diagnostic parameter on the surface of the REC in the method of own radiation for continuous and determined on by time of entrance influence. | uk |
| dc.description.abstractru | В основе применения метода собственного излучения для изделий радиоэлектроники лежит наличие прямой связи ресурса работы радиоэлектрических компонентов (РЕК) с его температурой. Для ряда компонентов (транзисторов, диодов, оксидных катодов, резисторов) существуют рассчитанные статистические зависимости. Применение метода собственного излучения возможно даже на недостаточно приспособленных для диагностирования образцах радиоэлектроники на местах их эксплуатации. С помощью указанного метода представляется возможность локализовать РЕК, которые отработали продолжительное время и находятся в предотказном состоянии, что приводит к повышению коэффициента готовности РЕО и к снижению стоимости обеспечения его жизненного цикла. Оперативность метода наглядно проявляется при исследование большого числа однотипных цифровых блоков (РЕК). Анализ источников показал, что тепловые поля однотипных изделий хорошо коррелированы, а использование метода собственного излучения в системе диагностирования позволяет осуществлять высокопроизводительную бесконтактную диагностику с применением компьютерной техники для обработки полученных результатов. Диагностический параметр в методе – температура поверхности РЕК, изменяется под действием специально построенной проверочной тестовой последовательности, регистрируется в соответствии со способом переноса тепловой энергии (теплопроводность, конвекция, тепловое излучение) и может быть представлен не только набором числовых значений, но и в виде двумерных (трехмерных) термограмм. После формирования набора информативных признаков возможно применение вычислительной техники и алгоритмов распознавания образов. Процесс локализации места неисправности в цифровом блоке связан с определением неисправного компонента путем регистрации и обработки диагностического параметра – теплового отклика на входные тестовые последовательности для данного компонента. Использование метода собственного излучения невозможно без создании диагностических моделей, которые отображают связь диагностического параметра с физико-химическими свойствами не только самого РЕК, но и защитного слоя, который накрывает полупроводниковый кристалл РЕК. Для построения модели переноса тепла от "разогретого" кристалла на поверхность РЕК (задача нестационарной теплопроводности) проведен анализ технологии изготовления и структуры современного полупроводникового РЕК. Целью статьи являются определения времени проявления диагностического параметра на поверхности РЕК в методе собственного излучения для непрерывного и детерминированного по времени входного воздействия. | uk |
| dc.description.abstractuk | Основою застосування методу власного випромінювання для виробів радіоелектроніки є наявність прямого зв'язку ресурсу радіоелектричних компонентів (РЕК) з їхньою температурою. Для низки компонентів (транзисторів, діодів, оксидних катодів, резисторів) існують розраховані статистичні залежності. Використання методу власного випромінювання можливе навіть на недостатньо пристосованих до діагностування зразках РЕО на місці експлуатації цих засобів. За допомогою методу виявляються елементи, що відпрацювали тривалий час і перебувають в перед відмовному стані. Заміна їх призводить до підвищення коефіцієнту готовності РЕО та зниження вартості забезпечення його життєвого циклу. Оперативність методу власного випромінювання наочно проявляється при дослідження великої кількості однотипних цифрових блоків (РЕК). Аналіз джерел показав, що теплові поля однотипних виробів добре корельовані, а використання методу власного випромінювання в автономній автоматизованій системі діагностування дозволяє здійснювати високопродуктивну безконтактну діагностику із застосуванням комп'ютерної техніки для обробки отриманих результатів. Діагностичний параметр в методі власного випромінювання – температура поверхні РЕК, що змінюється під дією спеціально побудованої тестової послідовності, реєструється відповідно до способу переносу теплової енергії (теплопровідність, конвекція, теплове випромінювання) і може бути представлений не лише набором числових значень, але й у вигляді двовимірних (тривимірних) термограм. Після формування набору інформативних ознак можливе застосування обчислювальної техніки та алгоритмів розпізнавання образів. Процес локалізації несправності пов'язаний з визначенням несправного РЕК шляхом реєстрації та обробки діагностичного параметру – теплового відгуку на вхідні тестові послідовності для цього РЕК. Використання методу власного випромінювання потребує створення діагностичних моделей, що відображують зв'язок діагностичного параметру з фізико хімічними властивостями як самого РЕК, так і захисного шару, що вкриває напівпровідниковий кристал РЕК. Для побудови моделі переносу тепла від «розігрітого» кристалу на поверхню РЕК (задача нестаціонарної теплопровідності) проведено аналіз технології виготовлення та структури сучасного напівпровідникового РЕК. Метою статті є визначення часу прояву діагностичного параметру на поверхні РЕК в методі власного випромінювання для безперервного та детермінованого за часом вхідного впливу. | uk |
| dc.format.pagerange | С. 97-101 | uk |
| dc.identifier.citation | Кузавков В. Забезпечення робочого режиму радіоелектронних компонентів у методі власного випромінювання / Василь Кузавков // Правове, нормативне та метрологічне забезпечення системи захисту інформації в Україні : науково-технічний збірник. – 2015. – Вип. 1(29). – С. 97-101. – Бібліогр.: 5 назв. | uk |
| dc.identifier.uri | https://ela.kpi.ua/handle/123456789/18018 | |
| dc.language.iso | uk | uk |
| dc.publisher | НТУУ "КПІ" | uk |
| dc.publisher.place | Київ | uk |
| dc.source.name | Правове, нормативне та метрологічне забезпечення системи захисту інформації в Україні: науково-технічний збірник | uk |
| dc.status.pub | published | uk |
| dc.subject | Діагностична інформація | uk |
| dc.subject | метод власного випромінювання | uk |
| dc.subject | радіоелектронний компонент | uk |
| dc.subject.udc | 681.35 | uk |
| dc.title | Забезпечення робочого режиму радіоелектронних компонентів в методі власного випромінювання | uk |
| dc.title.alternative | Providing of operating condition of radio electronic components in method of own radiation | uk |
| dc.title.alternative | Обеспечение рабочего режима радиоэлектронных компонентов в методе собственного излучения | uk |
| dc.type | Article | uk |
| thesis.degree.level | - | uk |
Файли
Контейнер файлів
1 - 1 з 1
Ліцензійна угода
1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
- Назва:
- license.txt
- Розмір:
- 7.71 KB
- Формат:
- Item-specific license agreed upon to submission
- Опис: