Прилад для дослідженні характеристик напівпровідникових елементів

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorГрицевич, І. Р.
dc.contributor.authorПіддубний, В. О.
dc.date.accessioned2021-01-15T11:03:02Z
dc.date.available2021-01-15T11:03:02Z
dc.date.issued2016
dc.description.abstractenPresented device for automated study of the electrical characteristics of semiconductors, has a relatively small size and cost due to its close work with the PC. The algorithm of the instrument. The expediency of using measurement results to CAD.uk
dc.description.abstractruПредставлен прибор для автоматизированного исследования электрических характеристик полупроводников, имеет относительно малые габариты и стоимость благодаря работе с ПК. Описан алгоритм работы прибора. Обоснована целесообразность использования результатов измерения в САПР.uk
dc.description.abstractukПредставлено прилад для автоматизованого дослідження електричних характеристик напівпровідників, що має відносно малі габарити та вартість завдяки роботі з ПК. Описано алгоритм роботи приладу. Обгрунтовано доцільність використання результатів вимірювання в САПР.uk
dc.format.pagerangeС. 63–65uk
dc.identifier.citationГрицевич, І. Р. Прилад для дослідженні характеристик напівпровідникових елементів / Грицевич І. Р., Піддубний В. О. // Міжнародна науково-технічна конференція «Радіотехнічні поля, сигнали, апарати та системи» : матеріали конференції 14 – 20 березня 2016 р., м. Київ, Україна / КПІ ім. Ігоря Сікорського, РТФ. – Київ : КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2016. – С. 63–65. – Бібліогр.: 4 назви .uk
dc.identifier.urihttps://ela.kpi.ua/handle/123456789/38707
dc.language.isoukuk
dc.publisherКПІ ім. Ігоря Сікорськогоuk
dc.publisher.placeКиївuk
dc.sourceМіжнародна науково-технічна конференція «Радіотехнічні поля, сигнали, апарати та системи» : матеріали конференції, 14–20 березня 2016 р., м. Київ, Українаuk
dc.subjectхарактерографuk
dc.subjectхарактеристики транзистораuk
dc.subjectСАПРuk
dc.subjectcurve traceruk
dc.subjectthe transistor characteristicsuk
dc.subjectCADuk
dc.subjectхарактериографuk
dc.subjectхарактеристики транзистораuk
dc.subjectСАПРuk
dc.titleПрилад для дослідженні характеристик напівпровідникових елементівuk
dc.typeArticleuk

Файли

Контейнер файлів
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
RTPSAS_2016_s2_t01.pdf
Розмір:
567.34 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Опис:
Завантажити
Ліцензійна угода
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
8.98 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Зібрання

Секція 2. Проектування, технологія та експлуатація радіоелектронної техніки. Ультразвукова техніка