Система автоматизованого вимірювання кута нахилу

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorМорозов, Я. Є.
dc.contributor.authorКотляр, С. С.
dc.date.accessioned2023-10-31T09:29:57Z
dc.date.available2023-10-31T09:29:57Z
dc.date.issued2022
dc.description.abstractВ статті приведено огляд і узагальнено відомості про використання інклінометрів в системах моніторингу і представлено області застосування таких систем. Приведено описи принципів дії інклінометрів на основі кварцового і МЕМС-датчиків. Дано оцінку використання інклінометрів.uk
dc.format.pagerangeС. 136-138uk
dc.identifier.citationМорозов, Я. Є. Система автоматизованого вимірювання кута нахилу / Я. Є. Морозов, С. С. Котляр // XVIII Науково-практична конференція студентів, аспірантів та молодих вчених “Ефективність та автоматизація інженерних рішень у приладобудуванні”, 06-07 грудня 2022 р, м. Київ, Україна : збірник праць конференції. – Київ : КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2022. – С. 136-138. – Бібліогр.: 4 назви.uk
dc.identifier.urihttps://ela.kpi.ua/handle/123456789/61906
dc.language.isoukuk
dc.publisherКПІ ім. Ігоря Сікорськогоuk
dc.publisher.placeКиївuk
dc.relation.ispartofXVIII Всеукраїнська науково-практична конференція студентів, аспірантів та молодих вчених «Ефективність та автоматизація інженерних рішень у приладобудуванні», 6-7 грудня 2022 року, м. Київ, Україна : збірник праць конференціїuk
dc.subjectавтоматизація вимірюванняuk
dc.subjectдатчик кута нахилуuk
dc.subjectсистеми моніторингуuk
dc.subject.udc621.317uk
dc.titleСистема автоматизованого вимірювання кута нахилуuk
dc.typeArticleuk

Файли

Контейнер файлів
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
ЕАІРП_2022_P136-138.pdf
Розмір:
587.04 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Опис:
Завантажити
Ліцензійна угода
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
9.1 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Зібрання

Секція 4. Ефективність інформаційних технологій при проектуванні систем вимірювання механічних величин. Техніко-економічні характеристики мікро- і нанопристроїв