Автоматизація аналізу вимірювальних пристроїв

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorТуз, Юліан Михайлович
dc.contributor.authorКозир, Олег Васильович
dc.contributor.authorTuz, Yu. M.
dc.contributor.authorKozyr, O. V.
dc.date.accessioned2018-09-21T15:56:07Z
dc.date.available2018-09-21T15:56:07Z
dc.date.issued2016
dc.description.abstractenThe design of measuring devices is based on the previous experience and supposes development of structural, functional and schematic diagrams. Transfer and error equations are used to describe them. The instrumentation unlike other technical devices have normalized metrological features established in the international, state and industry standards. The most important features are transfer function and measurement error. Since the measurement devices general design and optimization methodology are not sufficiently developed, the conformance evaluation of the designed device is done by analyzing the number of options, modifications and re-analysis to obtain the optimal solution. Therefore, the automation of the analysis process becomes particularly relevant. The most promising features have matrix equations through the possibility of encoding variables on their location and further displacement according to the designed algorithms. Based on determinant properties the established error equations in a matrix form have a possibility of an accurate representation of the total error regardless of the size of the component errors of the structural scheme. Also in matrix form the equations with complex coefficients are presented.uk
dc.description.abstractruВ статье рассмотрены модели измерительных устройств как объектов проектирования и их нормированные метрологические характеристики. Изложен матричный аппарат анализа измерительных устройств, погрешностей преобразования. Приведены примеры использования определителей в автоматизированном аналитическом анализе электрических цепей.uk
dc.description.abstractukВ статті розглянуто моделі вимірювальних пристроїв як об’єкту проектування та їх нормовані метрологічні характеристики. Викладено матричний апарат аналізу вимірювальних пристроїв, похибок перетворення. Наведено приклади використання визначників в автоматизованому аналітичному аналізі електричних кіл.uk
dc.format.pagerangeС. 92–99uk
dc.identifier.citationТуз Ю. М. Автоматизація аналізу вимірювальних пристроїв / Туз Ю. М., Козир О. В. // Механіка гіроскопічних систем : науково-технічний збірник. – 2016. – Вип. 31. – С. 92–99. – Бібліогр.: 8 назв.uk
dc.identifier.doihttp://dx.doi.org/10.20535/0203-377131201683588
dc.identifier.urihttps://ela.kpi.ua/handle/123456789/24569
dc.language.isoukuk
dc.publisherНТУУ «КПІ»uk
dc.publisher.placeКиївuk
dc.sourceМеханіка гіроскопічних систем : науково-технічний збірник, 2016, Вип. 31uk
dc.subjectавтоматизація процесу аналізуuk
dc.subjectпроектування вимірювальних пристроївuk
dc.subjectфункції перетворенняuk
dc.subjectпохибки вимірюванняuk
dc.subjectматричні рівнянняuk
dc.subjectmeasurement systems analysis automationuk
dc.subjectmeasuring system designuk
dc.subjecttransfer functionuk
dc.subjectmeasurement accuracyuk
dc.subjectmatrix equationsuk
dc.subjectавтоматизация процесса анализаuk
dc.subjectпроектирование измерительных устройствuk
dc.subjectфункции преобразованияuk
dc.subjectпогрешности измеренияuk
dc.subjectматричные уравненияuk
dc.subject.udc621.3: 521.38uk
dc.titleАвтоматизація аналізу вимірювальних пристроївuk
dc.title.alternativeMeasurement systems analysis automationuk
dc.title.alternativeАвтоматизация анализа измерительных приборовuk
dc.typeArticleuk

Файли

Контейнер файлів
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
mgs31_8Tuz.pdf
Розмір:
515.01 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Опис:
Завантажити
Ліцензійна угода
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
7.74 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Зібрання

Механіка гіроскопічних систем: науково-технічний збірник, Вип. 31