Комплексні дослідження якості сапфірових оптичних вікон сучасними неруйнівними методами

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorСердега, Б. К.
dc.contributor.authorМатяш, І. Є.
dc.contributor.authorЛитвин, П. М.
dc.contributor.authorМаслов, В. П.
dc.contributor.authorКущовий, С. М.
dc.contributor.authorSerdega, B. K.
dc.contributor.authorMatyach, I. E.
dc.contributor.authorLytvyn, P. M.
dc.contributor.authorMaslov, V. P.
dc.contributor.authorKushchovyi, S. M.
dc.contributor.authorСердега, Б. К.
dc.contributor.authorМатяш, И. Е.
dc.contributor.authorЛытвын, П. М.
dc.contributor.authorМаслов, В. П.
dc.contributor.authorКущевой, С. Н.
dc.date.accessioned2013-08-14T10:57:13Z
dc.date.available2013-08-14T10:57:13Z
dc.date.issued2012
dc.description.abstractenSapphire is a unique material that is widely used in modern instruments, as in the production of optical devices and microelectronics. Therefore, measurement of internal stress and the quality of polishing of detail’s surfaces of sapphire is an urgent problem in the scientific instrument. It is known that the geometry of the front of the radiation can affect the quality of polishing, and internal mechanical stresses associated with growing sapphire crystals. The goal of the work was to develop a highly sensitive method of nondestructive testing of the laser sapphire window and the link between the distribution of internal mechanical stresses nanoroughness with polished surfaces. Comprehensive studies have been conducted: the quality of polishing using atomic force microscopy, and the internal stresses – a new non-destructive polarization-modulation method. First established proportional relationship of internal stresses in laser sapphire windows and their nanoroughness of polished surfaces. The practical value lies in the development of new highly sensitive non-destructive polarization-modulation method by which control is performed tension-and micro-and nanodefect in crystalline materials that can be used in production.uk
dc.description.abstractruСапфир является уникальным материалом, который широко используется в современных приборах, как в производстве оптических устройств, так и в микроэлектронике. Поэтому измерения внутренних напряжений и качества полировки поверхностей в деталях из сапфира является актуальной проблемой в научном приборостроении. Как известно, на геометрию фронта распространения излучения может влиять как качество полирования, так и внутренние механические напряжения, связанные с выращиванием кристаллов сапфира. Целью работы была разработка высокочувствительного метода неразрушающего контроля лазерных окон с сапфиром и установления связи между распределением внутренних механических напряжений с наношероховатостью полированных поверхностей. Были проведены комплексные исследования: качество полирования методом атомно-силовой микроскопии и внутренние напряжения - новым неразрушающим поляризационно-модуляционным методом. Результаты исследований позволили выявить распределение внутренних механических напряжений в лазерных сапфировых окнах и впервые установить пропорциональную зависимость между внутренними механическими напряжениями и наношероховатостью полированных поверхностей.uk
dc.description.abstractukСапфір є унікальним матеріалом, який широко використовується в сучасних приладах як для виробництвах оптичних пристроїв так і в мікроелектроніці. Тому вимірювання внутрішніх напружень та якості полірування поверхонь в деталях із сапфіру є актуальною проблемою в науковому приладобудуванні. Як відомо, на геометрію фронту розповсюдження випромінювання може впливати як якість полірування, так і внутрішні механічні напруження, пов’язані з вирощуванням кристалів сапфіру. Метою роботи було розроблення високочутливого методу неруйнівного контролю лазерних вікон із сапфіру та встановлення зв’язку між розподілом внутрішніх механічних напружень з наношорсткістю полірованих поверхонь. Були проведені комплексні дослідження: якості полірування методом атомно-силової мікроскопії та внутрішніх напружень - новим неруйнівним поляризаційно-модуляційним методом. Результати досліджень дозволили виявити розподіл внутрішніх механічних напружень в лазерних вікнах із сапфіру і вперше встановити пропорційну залежність між внутрішніми механічними напруженнями та наношорсткістю полірованих поверхонь.uk
dc.format.pagerangeС. 54-60uk
dc.identifier.citationКомплексні дослідження якості сапфірових оптичних вікон сучасними неруйнівними методами / Сердега Б. К., Матяш І. Є., Литвин П. М., Маслов В. П., Кущовий С. М. // Вісник НТУУ «КПІ». Приладобудування : збірник наукових праць. – 2012. – Вип. 43. – С. 54–60. – Бібліогр.: 2 назви.uk
dc.identifier.urihttps://ela.kpi.ua/handle/123456789/3480
dc.language.isoukuk
dc.publisherНТУУ "КПІ"uk
dc.publisher.placeКиївuk
dc.sourceВісник НТУУ «КПІ». Приладобудування: збірник наукових працьuk
dc.status.pubpublisheduk
dc.subjectнеруйнівні методи контролюuk
dc.subjectлазерні вікнаuk
dc.subjectсапфірuk
dc.subjectполяризаційно-модуляційний методuk
dc.subjectатомно-силова мікроскопіяuk
dc.subjectdestructive methods of controlen
dc.subjectlaser windowsen
dc.subjectsapphireen
dc.subjectpolarization-modulation methoden
dc.subjectatomic force microscopyen
dc.subjectнеразрушающие методы контроляru
dc.subjectлазерные окнаru
dc.subjectсапфирru
dc.subjectполяризационно-модуляционный методru
dc.subjectатомно-силовая микроскопияru
dc.subject.udc535.15uk
dc.titleКомплексні дослідження якості сапфірових оптичних вікон сучасними неруйнівними методамиuk
dc.title.alternativeComprehensive study of quality sapphire optical window modern nondestructive methodsuk
dc.title.alternativeКомплексные исследования качества сапфировых оптических окон современными неразрушающими методамиuk
dc.typeArticleuk
thesis.degree.level-uk

Файли

Контейнер файлів
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
razd_4.pdf
Розмір:
1.36 MB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Завантажити
Ліцензійна угода
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
1.71 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Зібрання

Вісник НТУУ «КПІ». Приладобудування: збірник наукових праць, Вип. 43