Безконтактний спосіб вимірювання рекомбінаційних параметрів носіїв заряду в напівпровідниках

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorЧирчик, С. В.
dc.date.accessioned2020-09-22T12:28:16Z
dc.date.available2020-09-22T12:28:16Z
dc.date.issued2009
dc.format.pagerangeС. 10–16uk
dc.identifier.citationЧирчик, С. В. Безконтактний спосіб вимірювання рекомбінаційних параметрів носіїв заряду в напівпровідниках / С. В. Чирчик // Наукові вісті НТУУ «КПІ» : міжнародний науково-технічний журнал. – 2009. – № 6(68). – С. 10–16. – Бібліогр.: 22 назв.uk
dc.identifier.urihttps://ela.kpi.ua/handle/123456789/36351
dc.language.isoukuk
dc.publisherНТУУ «КПІ»uk
dc.publisher.placeКиївuk
dc.sourceНаукові вісті НТУУ «КПІ» : науково-технічний журнал, 2009, № 6(68)uk
dc.titleБезконтактний спосіб вимірювання рекомбінаційних параметрів носіїв заряду в напівпровідникахuk
dc.typeArticleuk

Файли

Контейнер файлів
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
2009-6-2.pdf
Розмір:
285.15 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Опис:
Завантажити
Ліцензійна угода
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
9.06 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Зібрання

Наукові вісті НТУУ «КПІ»: науково-технічний журнал, № 6(68)