Сучасні методи дефектоскопії
Вантажиться...
Дата
2020
Науковий керівник
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
КПІ ім. Ігоря Сікорського
Анотація
Опис
Ключові слова
дефектоскопія, дефект, класифікація дефектоскопів, неруйнівний контроль
Бібліографічний опис
Наконечна, А. В. Сучасні методи дефектоскопії / А. В. Наконечна // ХIII Науково-практична конференція студентів, аспірантів та молодих вчених «Погляд у майбутнє приладобудування», 13-14 травня 2020 р., м. Київ, Україна : збірник праць конференції. – Київ : КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2020. – С. 293-296. – Бібліогр.: 7 назв.