Входные импедансные характеристики барьерных структур

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorГиндикина, Мария Анатольевна
dc.contributor.authorВодолазская, Марьяна Владимировна
dc.contributor.authorНелин, Евгений Андреевич
dc.date.accessioned2018-02-15T15:40:06Z
dc.date.available2018-02-15T15:40:06Z
dc.date.issued2015
dc.descriptionПолный текст доступен на сайте издания по подписке: http://radio.kpi.ua/article/view/S0021347015070055uk
dc.description.abstractruРассмотрены универсальные особенности и получены аналитические выражения для входных импедансных характеристик типичных волновых барьерных структур. Приведены зависимости входного импеданса от энергии для квантово-механических структур и частоты — для электромагнитных и акустических структур. Найдены дополнительные к известным условия резонансного прохождения и резонансной локализации волн в барьерных структурах.uk
dc.format.pagerangeС. 48-56uk
dc.identifier.citationПродеус, А. Н. Входные импедансные характеристики барьерных структур / А. Н. Продеус, В. П. Овсяник // Известия высших учебных заведений. Радиоэлектроника. – 2015. – Т. 58, № 7 (637). – C. 48–56. – Библиогр.: 16 назв.uk
dc.identifier.doihttps://doi.org/10.20535/S0021347015070055
dc.identifier.urihttps://ela.kpi.ua/handle/123456789/22120
dc.language.isoruuk
dc.publisherНТУУ «КПИ»uk
dc.publisher.placeКиевuk
dc.sourceИзвестия высших учебных заведений. Радиоэлектроника, 2015, Т. 58, № 7 (637)uk
dc.subjectвходной импедансuk
dc.subjectдвухбарьерная структураuk
dc.subjectдвухъямная структураuk
dc.subject.udc530.145.6:621.37uk
dc.titleВходные импедансные характеристики барьерных структурuk
dc.typeArticleuk

Файли

Контейнер файлів
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
2015-07-48.pdf
Розмір:
56.15 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Опис:
Первая страница
Завантажити
Ліцензійна угода
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
7.74 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Зібрання

Известия высших учебных заведений. Радиоэлектроника: международный ежемесячный научно-технический журнал, Т. 58, № 7 (637)