Контроль якісті деталей приладів на основі електромагнітного методу

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorКирієнко, О. В.
dc.contributor.authorШевченко, В. В.
dc.date.accessioned2019-06-06T11:43:41Z
dc.date.available2019-06-06T11:43:41Z
dc.date.issued2019
dc.description.abstractНаведено аналіз застосування вихрострумового методу для контролю різального інструменту в умовах виробництва. Приведено еквівалентну схему системи для вихрострумого контролю деталей.uk
dc.event.date2019-05-15uk
dc.event.placeКПІ ім. Ігоря Сікорського, м. Київ, Українаuk
dc.format.pagerangeC. 159-162uk
dc.identifier.citationКирієнко, О. В. Контроль якісті деталей приладів на основі електромагнітного методу / О. В. Кирієнко, В. В. Шевченко // ХII Всеукраїнська науково-практична конференція студентів, аспірантів та молодих вчених «Погляд у майбутнє приладобудування», 15-16 травня 2019 р., м. Київ, Україна : збірник праць / КПІ ім. Ігоря Сікорського, ПБФ. – Київ : КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2019. – С. 159–162. – Бібліогр.: 6 назв.uk
dc.identifier.isbn978-611-01-1465-3
dc.identifier.urihttps://ela.kpi.ua/handle/123456789/27832
dc.language.isoukuk
dc.publisherКПІ ім. Ігоря Сікорськогоuk
dc.publisher.placeКиївuk
dc.sourceХII Всеукраїнська науково-практична конференція студентів, аспірантів та молодих вчених «Погляд у майбутнє приладобудування», 15-16 травня 2019 р., м. Київ, Україна : збірник працьuk
dc.subjectдіагностикаuk
dc.subjectвихрострумовий методuk
dc.subjectоб’єкт контролюuk
dc.subjectелектромагнітне полеuk
dc.subject.udc681.2:538.5uk
dc.titleКонтроль якісті деталей приладів на основі електромагнітного методуuk
dc.title.event«Погляд у майбутнє приладобудування», ХII Всеукраїнська науково-практична конференція студентів, аспірантів та молодих вченихuk
dc.typeArticleuk

Файли

Контейнер файлів
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
PUMPb-2019_Proceedings-Page159-162.pdf
Розмір:
714.9 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Опис:
Завантажити
Ліцензійна угода
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
9.06 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Зібрання

Секція 3. Комп’ютерно-інтегровані технології виробництва приладів