Пристрій для дослідження надійності провідникових з’єднань (AuAl) в сучасних інтегральних мікросхемах
Вантажиться...
Дата
2018
Автори
Науковий керівник
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
КПІ ім. Ігоря Сікорського
Анотація
Опис
Ключові слова
надійність, reliability, Атмега32, Atmega32, АЦП, ADC, чотирьох провідний, four-wire, вимірювання опору, resistance measurment
Бібліографічний опис
Зилевіч, М. О. Пристрій для дослідження надійності провідникових з’єднань (AuAl) в сучасних інтегральних мікросхемах / М. О. Зилевіч // XI Міжнародна науково-технічна конференція молодих вчених «Електроніка-2018» : збірник статей. – Київ, 2018. – С. 169-172.