Особенности проектирования вихретоковых дефектоскопов на микроконтроллерах

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorБаженов, Виктор Григорьевич
dc.contributor.authorГльойник, К. А.
dc.date.accessioned2018-11-12T15:24:47Z
dc.date.available2018-11-12T15:24:47Z
dc.date.issued2016
dc.description.abstractenConsidered flaw structure based MK implement all known methods including multi-frequency eddy current testing methods and what little digital flaw detectors are inferior mass-produced. Their major advantage is small size, low cost and low power consumption flexible interface. It allows to build flaw in the automatic processing production line.uk
dc.format.pagerangeC. 46-49uk
dc.identifier.citationБаженов В. Г. Особенности проектирования вихретоковых дефектоскопов на микроконтроллерах / Баженов В. Г., Гльойник К. А. // Научни Известия НТСМ. – 2016. – № 1(187). – C. 46-49. – Бібліогр.: 9 назв.uk
dc.identifier.issn1310-3946
dc.identifier.urihttps://ela.kpi.ua/handle/123456789/25020
dc.language.isoruuk
dc.publisherИнститут по механика-БАН, Институт по информационни и комуникационни технологии-БАНuk
dc.publisher.placeБолгарияuk
dc.sourceЖурнал «Научни Известия НТСМ», XXIV, №1(187), 06.2016.uk
dc.subjectfrequency synthesizeruk
dc.subjectlow costuk
dc.subjectmicrocontrollersuk
dc.subjectDDSuk
dc.subjecteddy current flaw detectoruk
dc.subjectDSP processorsuk
dc.subjectsmall sizeuk
dc.subjectdigitaluk
dc.titleОсобенности проектирования вихретоковых дефектоскопов на микроконтроллерахuk
dc.title.alternativeDesign features of eddy current flaw detectors on the microcontrollersuk
dc.typeArticleuk

Файли

Контейнер файлів
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
Bazhenov2_NDTDAYS_2016.pdf
Розмір:
626.66 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Опис:
Завантажити
Ліцензійна угода
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
7.74 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Зібрання

Статті (АСНК)