Simulation of defectoscopic X-ray television systems for non-destructive testing of semiconductor materials

dc.contributor.advisorDenbnovetsky, Stanislav
dc.contributor.authorSlobodian, Nina
dc.date.accessioned2023-10-24T08:44:19Z
dc.date.available2023-10-24T08:44:19Z
dc.date.issued2007
dc.description.abstractThe work is devoted to increasing effectiveness of X-ray television systems for non-destructive testing on base of selecting by simulation the most profitable functioning regimes of X-ray-electrical signal converter unit for testing of the semiconductor materials. The method of selecting the most profitable X-ray apparatus regime is proposed. The simulation of radiation generation from pulse X-ray tubes is performed. For small-signal approach the end-to-end model of X-ray-electrical signal unit with X-ray vidicon by means of linear digital non-recursive filter is made. The digital non-linear model of such unit is implemented. The end-to-end model of converter with CCD-matrix is developed and applied. Good correspondence between the results obtained in the framework of proposed model and by performed experiments is achieved.uk
dc.description.abstractotherДисертація присвячена підвищенню ефективності роботи рентгенотелевізійних систем неруйнівного контролю на основі визначення шляхом моделювання найбільш сприятливих режимів функціонування блока рентгеноелектричного перетворення при дефектоскопії напівпровідникових матеріалів. Запропонована методика визначення найбільш сприятливих режимів роботи рентгенівських апаратів. Розроблена модель генерації випромінювання імпульсними рентгенівськими трубками. В наближенні малого сигналу побудована наскрізна цифрова модель блока рентгеноелектричного перетворення з рентгеновідиконом на основі лінійного цифрового нерекурсивного фільтра. Створена цифрова нелінійна модель такого перетворювача. Створена та застосована для конкретних систем наскрізна модель перетворювача з ПЗЗ-матрицею. Досягнуте добре узгодження результатів, одержаних на основі запропонованої моделі та виконаних експериментів.uk
dc.format.extent23 p.uk
dc.identifier.citationSlobodian, N. V. Simulation of defectoscopic X-ray television systems for non-destructive testing of semiconductor materials : thesis abstract ... candidate technical of science : 05.27.01 – solid-state electronics. – Kyiv : National technical university of Ukraine “KPI”, 2007. – 23 p.uk
dc.identifier.orcid0000-0002-1515-1050uk
dc.identifier.urihttps://ela.kpi.ua/handle/123456789/61711
dc.language.isoenuk
dc.publisherNational Technical University of Ukraine “Igor Sikorsky Kyiv Polytechnic Institute”uk
dc.publisher.placeKyivuk
dc.subjectX-ray television systemuk
dc.subjectnon-destructive testinguk
dc.subjectsimulationuk
dc.subjectX-ray vidiconuk
dc.subjectCCD-matrixuk
dc.subjectsemiconductor materialsuk
dc.subjectрентгенотелевізійна системаuk
dc.subjectнеруйнівний контрольuk
dc.subjectмоделюванняuk
dc.subjectрентгеновідиконuk
dc.subjectПЗЗ-матрицяuk
dc.subjectнапівпровідникові матеріалиuk
dc.subject.udc621.397.2:621.386uk
dc.titleSimulation of defectoscopic X-ray television systems for non-destructive testing of semiconductor materialsuk
dc.title.alternativeМоделювання дефектоскопічних рентгенотелевізійних систем для дослідження напівпровідникових матеріалівuk
dc.typeThesisuk

Файли

Контейнер файлів
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Вантажиться...
Ескіз
Назва:
Slobodian_aref_eng.pdf
Розмір:
655.82 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Опис:
.
Ліцензійна угода
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
1.71 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис: