Частотные и температурные зависимости диэлектрических потерь в полупроводниках на СВЧ

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorДиденко, Юрий Викторович
dc.contributor.authorДіденко, Юрій Вікторович
dc.contributor.authorDidenko, Y.
dc.date.accessioned2016-09-13T13:50:54Z
dc.date.available2016-09-13T13:50:54Z
dc.date.issued2015
dc.description.abstractenThe article analyzes the nature of the dielectric loss in silicon and gallium arsenide. The experimental frequency and temperature dependences of the dielectric loss in semiconductors at UHF are presented. Also the results of mathematical modeling are shown.uk
dc.description.abstractruВ статье проанализирована природа диэлектрических потерь в кремнии и арсениде галлия. Приведены экспериментальные частотные и температурные зависимости диэлектрических потерь в полупроводниках на СВЧ. Также показаны результаты математического моделирования.uk
dc.description.abstractukУ статті проаналізована природа діелектричних втрат у кремнії та арсеніді галію. Наведено експериментальні частотні й температурні залежності діелектричних втрат у напівпровідниках на НВЧ. Також показані результати математичного моделювання.uk
dc.format.pagerangeС. 9-11uk
dc.identifier.citationДиденко Ю. В. Частотные и температурные зависимости диэлектрических потерь в полупроводниках на СВЧ / Ю. В. Диденко // Електроніка та зв'язок : науково-технічний журнал. – 2015. – Т. 20, № 3(86). – С. 9–11. – Бібліогр.: 3 назви.uk
dc.identifier.urihttps://ela.kpi.ua/handle/123456789/17553
dc.language.isoruuk
dc.publisherНТУУ «КПІ»uk
dc.publisher.placeКиївuk
dc.source.nameЕлектроніка та зв'язок : науково-технічний журналuk
dc.status.pubpublisheduk
dc.subjectполупроводниковые материалыru
dc.subjectтангенс угла потерьru
dc.subjectдиэлектрическая проницаемостьru
dc.subjectчастотная зависимость потерьru
dc.subjectпроводимостьru
dc.subjectквазидебаевский механизмru
dc.subjectнапівпровідникові матеріалиuk
dc.subjectтангенс кута втратuk
dc.subjectдіелектрична проникністьuk
dc.subjectчастотна залежність втратuk
dc.subjectпровідністьuk
dc.subjectквазідебаєвський механізмuk
dc.subjectsemiconductor materialsen
dc.subjectthe loss tangenten
dc.subjectthe dielectric permittivityen
dc.subjectthe frequency dependence of lossesen
dc.subjectthe conductivityen
dc.subjectthe quasi-Debye mechanismen
dc.subject.udc621.372.41uk
dc.titleЧастотные и температурные зависимости диэлектрических потерь в полупроводниках на СВЧuk
dc.title.alternativeЧастотні та температурні залежності діелектричних втрат у напівпровідниках на НВЧuk
dc.title.alternativeFrequency and temperature dependences of the dielectric loss in semiconductors at UHFuk
dc.typeArticleuk
thesis.degree.level-uk

Файли

Контейнер файлів
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
EiS2015-3_01_Didenko.pdf
Розмір:
223.77 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Завантажити
Ліцензійна угода
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
7.71 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Зібрання

Електроніка та зв'язок: науково-технічний журнал, Т. 20, № 3(86)