Analysis of normative documentation on the use of array eddy current probes
dc.contributor.author | Lysenko, I. | |
dc.contributor.author | Mirchev, Y. | |
dc.contributor.author | Kuts, Y. | |
dc.contributor.author | Levchenko, О. | |
dc.date.accessioned | 2023-08-23T06:52:44Z | |
dc.date.available | 2023-08-23T06:52:44Z | |
dc.date.issued | 2023 | |
dc.format.extent | 368 c. | uk |
dc.format.pagerange | С. 267-269. | uk |
dc.identifier.citation | Analysis of normative documentation on the use of array eddy current probes / Lysenko I., Mirchev Y., Kuts Y., Levchenko О. // XХIІ Міжнародна науково-технічна конференція “Приладобудування: стан і перспективи”, 16 – 17 травня 2023 р., Київ, Україна : збірник матеріалів конференції. – Київ : КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2023. – С. 267-269. – Бібліогр.: 7 назв. | uk |
dc.identifier.uri | https://ela.kpi.ua/handle/123456789/59395 | |
dc.language.iso | en | uk |
dc.publisher | КПІ ім. Ігоря Сікорського | uk |
dc.publisher.place | Київ | uk |
dc.relation.ispartof | XХII Міжнародна науково-технічна конференція "Приладобудування: стан і перспективи", 16–17 травня 2023 р., Київ, Україна : збірник матеріалів конференції | uk |
dc.subject | array probes | uk |
dc.subject | eddy current nondestructive testing | uk |
dc.subject | flexible probes | uk |
dc.subject | surface defects | uk |
dc.subject | Eddy Current Array | uk |
dc.subject | sensitivity | uk |
dc.subject | calibration | uk |
dc.subject.udc | 620.179.14 | uk |
dc.title | Analysis of normative documentation on the use of array eddy current probes | uk |
dc.type | Article | uk |
Файли
Контейнер файлів
1 - 1 з 1
Вантажиться...
- Назва:
- p267-269.pdf
- Розмір:
- 135.42 KB
- Формат:
- Adobe Portable Document Format
- Опис:
Ліцензійна угода
1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
- Назва:
- license.txt
- Розмір:
- 9.1 KB
- Формат:
- Item-specific license agreed upon to submission
- Опис: