Контроль якості деталей приладів в умовах автоматизованого виробництва

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorШевченко, В. В.
dc.date.accessioned2022-07-21T11:49:44Z
dc.date.available2022-07-21T11:49:44Z
dc.date.issued2022
dc.format.pagerangeC. 72-73uk
dc.identifier.citationШевченко, В. В. Контроль якості деталей приладів в умовах автоматизованого виробництва / Шевченко, В. В. // XХI Міжнародна науково-технічна конференція “Приладобудування: стан і перспективи”, 17 – 18 травня 2022 р., Київ, Україна : збірник матеріалів конференції. – Київ : КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2022. – С. 72-73. – Бібліогр.: 4 назви.uk
dc.identifier.urihttps://ela.kpi.ua/handle/123456789/49198
dc.language.isoukuk
dc.publisherКПІ ім. Ігоря Сікорськогоuk
dc.publisher.placeКиївuk
dc.sourceXХI Міжнародна науково-технічна конференція “Приладобудування: стан і перспективи”, 17–18 травня 2022 р., Київ, Україна : збірник матеріалів конференціїuk
dc.subjectякість поверхні деталіuk
dc.subjectелектромагнітний методuk
dc.subjectексплуатаційні характеристики деталіuk
dc.subjectавтоматизація контролюuk
dc.subjectпродуктивністьuk
dc.subjectсобівартістьuk
dc.subject.udc681.2.538.5uk
dc.titleКонтроль якості деталей приладів в умовах автоматизованого виробництваuk
dc.typeArticleuk

Файли

Контейнер файлів
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
PSP-XXI_2022_p72-73.pdf
Розмір:
148.44 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Опис:
Завантажити
Ліцензійна угода
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
1.71 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Зібрання

Секція 3. Комп’ютерно-інтегровані технології виробництва приладів. Обробка металів і матеріалознавство