Вимірювально-обчислювальний комплекс для контролюякості об’єктивів

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorЛіхоліт, М. І.
dc.contributor.authorМаркочев, А. С.
dc.contributor.authorОвчар, М. І.
dc.contributor.authorПолежаев, В. В.
dc.contributor.authorСоболь, В. П.
dc.contributor.authorТягур, В. М.
dc.contributor.authorКучеренко, О. К.
dc.contributor.authorКравченко, І. В.
dc.contributor.authorLiholit, M. I.
dc.contributor.authorMarkochev, A. S.
dc.contributor.authorOvchar, M. I.
dc.contributor.authorPolezhaev, V. V.
dc.contributor.authorSobol, V. P.
dc.contributor.authorTyagur, V. M.
dc.contributor.authorKucherenko, O. K.
dc.contributor.authorKravchenko, I. V.
dc.contributor.authorЛихолит, Н. И.
dc.contributor.authorМаркочев, А. С.
dc.contributor.authorОвчар, Н. И.
dc.contributor.authorПолежаев, В. В.
dc.contributor.authorСоболь, В. П.
dc.contributor.authorТягур В, В. М.
dc.contributor.authorКучеренко, О. К.
dc.contributor.authorКравченко, И. В.
dc.date.accessioned2015-03-26T10:38:04Z
dc.date.available2015-03-26T10:38:04Z
dc.date.issued2003
dc.description.abstractenThe problems of investigation of control equipment for optics, which works in visible part of radiation are reflected. Basic theoretical methods are spared. Functional layout is described. Results of metrological control and errors estimatings are given.uk
dc.description.abstractruРассмотрены вопросы разработки измерительно-вычислительного комплекса для контроля качества обьективов работающих в видимой части спектру. Приведены основные теоретические положения, на которых основана работа комплекса. Описана его функциональная схема. Даны результаты оценки ошибок и метрологической аттестации комплекса.uk
dc.description.abstractukРозглядається вимірювально-обчислювальний комплекс для визначення якості зображення об’єктивів. Наводяться основні теоретичні положення, на яких грунтується робота комплексу та особливості програмного забезпечення. Приводяться результати оцінки точності та метрологічної атестації комплексу.uk
dc.format.pagerangeС. 38-45uk
dc.identifier.citationВимірювально-обчислювальний комплекс для контролюякості об’єктивів / М. І. Ліхоліт, А. С. Маркочев, М. І. Овчар, В. В. Полежаев, В. П. Соболь, В. М. Тягур, О. К. Кучеренко, І. В. Кравченко // Вісник НТУУ «КПІ». Приладобудування : збірник наукових праць. – 2003. – Вип. 25. – С. 38–45. – Бібліогр.: 6 назв.uk
dc.identifier.urihttps://ela.kpi.ua/handle/123456789/11112
dc.language.isoukuk
dc.publisherНТУУ "КПІ"uk
dc.publisher.placeКиївuk
dc.source.nameВісник НТУУ «КПІ». Приладобудування: збірник наукових працьuk
dc.status.pubpublisheduk
dc.subject.udc681.7.013.8uk
dc.titleВимірювально-обчислювальний комплекс для контролюякості об’єктивівuk
dc.title.alternativeНardware and software equipment for optics quality controluk
dc.title.alternativeИзмерительно-вычислительний комплекс для контроля качества обьективовuk
dc.typeArticleuk
thesis.degree.level-uk

Файли

Контейнер файлів
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
r2_3.pdf
Розмір:
134.75 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Завантажити
Ліцензійна угода
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
1.71 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Зібрання

Вісник НТУУ «КПІ». Приладобудування: збірник наукових праць, Вип. 25