Compact instrument for MTF measurements

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorAvdieionok, I.
dc.contributor.authorBorovytsky, V.
dc.date.accessioned2019-05-25T09:30:49Z
dc.date.available2019-05-25T09:30:49Z
dc.date.issued2019
dc.description.abstractThe article describes the techniques for measurements of the modulation transfer function of an optical systems and the proposed compact instrument for this measurements.en
dc.event.date2019-05-15uk
dc.event.placeКПІ ім. Ігоря Сікорського, м. Київ, Українаuk
dc.format.pagerangePp. 57-59en
dc.identifier.citationAvdieionok, I. Compact instrument for MTF measurements / I. Avdieionok, V. Borovytsky // ХII Всеукраїнська науково-практична конференція студентів, аспірантів та молодих вчених «Погляд у майбутнє приладобудування», 15-16 травня 2019 р., м. Київ, Україна : збірник праць / КПІ ім. Ігоря Сікорського, ПБФ. – Київ : КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2019. – С. 57–59. – Бібліогр.: 3 назви.uk
dc.identifier.isbn978-611-01-1465-3
dc.identifier.urihttps://ela.kpi.ua/handle/123456789/27677
dc.language.isoenuk
dc.publisherКПІ ім. Ігоря Сікорськогоuk
dc.publisher.placeКиївuk
dc.sourceХII Всеукраїнська науково-практична конференція студентів, аспірантів та молодих вчених «Погляд у майбутнє приладобудування», 15-16 травня 2019 р., м. Київ, Україна : збірник працьuk
dc.subjectmodulation transfer functionen
dc.subjectoptical systemsen
dc.subjectslanted edge techniqueen
dc.subjecttest objecten
dc.subject.udc004.932.2uk
dc.titleCompact instrument for MTF measurementsen
dc.title.event«Погляд у майбутнє приладобудування», ХII Всеукраїнська науково-практична конференція студентів, аспірантів та молодих вченихuk
dc.typeArticleen

Файли

Контейнер файлів
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
PUMPb-2019_Proceedings-Page57-59.pdf
Розмір:
790.21 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Опис:
Завантажити
Ліцензійна угода
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
9.06 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Зібрання

Секція 2. Оптичні та оптико-електронні прилади і системи