Hydrogen Peroxide Measurements by MISFET and LET Structures with Rear Porous Silicon Layer and Metallic Nanoparticles
Вантажиться...
Дата
2018
Науковий керівник
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
КПІ ім. Ігоря Сікорського
Анотація
Опис
Ключові слова
porous silicon, MISFET sensor, Pt nanoparticles, LET sensor, Ag nanoparticles, пористий кремній, МДН-транзистор, фототранзистор, наночастинки срібла, наночастинки платини, пористый кремний, МДП-транзистор, наночастички среребра, наночастички платины
Бібліографічний опис
Hydrogen Peroxide Measurements by MISFET and LET Structures with Rear Porous Silicon Layer and Metallic Nanoparticles / O. Yu. Kutova, T. Yu. Obukhova, M. G. Dusheiko, B. O. Loboda, T. I. Borodinova, S. V. Tkach // Мікросистеми, Електроніка та Акустика : науково-технічний журнал. – 2018. – Т. 23, № 5(106). – С. 17–24. – Бібліогр.: 21 назв.