Підвищення чутливості вимірювання мікроскопу нестаціонарної фотопружності для дослідження матеріалів електроніки

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorОлійник, Остап Олегович
dc.contributor.degreedepartmentКафедра електронних приладів та пристроївuk
dc.contributor.degreefacultyФакультет електронікиuk
dc.contributor.degreegrantorНаціональний технічний університет України «Київський політехнічний інститут імені Ігоря Сікорського»uk
dc.date.accessioned2017-06-14T08:54:22Z
dc.date.available2017-06-14T08:54:22Z
dc.date.issued2017
dc.description.abstractenThe thesis is devoted to improving of modulation-polarization method for mechanical stress registration by increasing the measurement sensitivity of birefringence created by non-stationary processes in electronic materials. The modeling and technical implementation of photoelastic microscope is made on the base of nonstationary photoelasticity research in electronic materials to measure the birefringence values in them. The calculation method of the surface and internal mechanical stresses is described. Practical application of photoelastic microscope is demonstrated as mechanical displacement measurement of photoelastic bar with internal changes in refractive index. On the base of he modulator noise spectrum, thermal, structural, and other noises calculations it is shown that thermal noise, amplifier noise and low frequency vibration are the dominant. For linear and circular modulation of laser radiation components photoelastic modulator is used. To increase the sensitivity of the signal registration an optimal correlation filter is synthesized, which simultaneously perform lock-in detection of reference and useful signals under background noise. Equations that describe the S/N ratio in the output of photoelastic microscope are obtained as well as methodological and instrumental error. For mechanical stresses measurements and search of irregularities in optical materials it is made the comparative analysis of modulation polarization devices and designed photoelastic microscope.en
dc.description.abstractruДиссертация посвящена совершенствованию модуляционно-поляризационного метода регистрации механических напряжений путем повышения чувствительности измерения двулучепреломления, вызванного нестационарными процессами в материалах электроники. Проведено моделирование и практическая реализация фотоупругого микроскопа с повышенной чувствительностью на основе исследований нестационарной фотоупругости в материалах электроники для измерения в них величины двулучепреломления. Описанная методика расчета приповерхностных и внутренних механических напряжений. Продемонстрировано практическое применение фотоупругого микроскопа для измерения механических перемещений фотоупругих эталонов с градационными изменениями показателей преломления. На основе расчетов спектров шумов модулятора, теплового, структурного и других шумов показано, что среди шумовых факторов в процессе измерения доминирующими являются тепловой шум, шум усилителя и низкочастотные вибрации. Для модуляции линейной и циркулярной компоненты лазерного излучения использован фотоупругий модулятор. Для повышения чувствительности регистрации полезного сигнала синтезирован оптимальный корреляционный фильтр, который дополнительно реализует функцию синхронно-фазового детектирования полезного и опорного сигналов на фоне шумов. Получены выражения, описывающие отношения С/Ш на выходе фотоупругого микроскопа и его методическую и инструментальную погрешности. Проведен сравнительный анализ модуляционно-поляризационных приборов с разработанным фотоупругим микроскопом для измерения механических напряжений, поиска оптических неоднородностей в материалах.ru
dc.description.abstractukДисертація присвячена вдосконаленню модуляційно-поляризаційного методу реєстрації механічних напружень шляхом підвищення чутливості вимірювання наведеного нестаціонарними процесами двопроменезаломлення в матеріалах електроніки. Проведено моделювання та технічну реалізацію фотопружного мікроскопу з підвищеною чутливістю на основі досліджень нестаціонарної фотопружності в матеріалах електроніки для вимірювання в них величини двопроменезаломлення. Описана методика розрахунку приповерхневих та внутрішніх механічних напружень. Продемонстроване практичне застосування фотопружного мікроскопу для вимірювання механічних переміщень фотопружних еталонів з градаційними змінами показників заломлення. На основі розрахунків спектрів шумів модулятора, теплового, структурного, та інших шумів показано, що серед шумових факторів в процесі вимірювання домінуючими є тепловий шум, шум підсилювача та низькочастотні вібрації. Для модуляції лінійної та циркулярної компоненти лазерного випромінювання використаний фотопружний модулятор. Для підвищення чутливості реєстрації корисного сигналу запропонована синтезований оптимальний кореляційний фільтр, який додатково реалізує функцію синхронно-фазового детектування корисного та опорного сигналів на фоні шумів. Отримані вирази, які описують відношення С/Ш на виході фотопружного мікроскопу та його методичну та інструментальну похибки. Проведений порівняльний аналіз модуляційно-поляризаційних приладів з розробленим фотопружним мікроскопом для вимірювання механічних напружень, пошуку оптичних неоднорідностей в матеріалах.uk
dc.format.page22 с.uk
dc.identifier.citationОлійник, О. О. Підвищення чутливості вимірювання мікроскопу нестаціонарної фотопружності для дослідження матеріалів електроніки : автореф. дис. … канд. техн. наук : 05.27.01 – твердотільна електроніка / Олійник Остап Олегович. – Київ, 2017. – 22 с.uk
dc.identifier.urihttps://ela.kpi.ua/handle/123456789/19685
dc.language.isoukuk
dc.publisherКПІ ім. Ігоря Сікорськогоuk
dc.publisher.placeКиївuk
dc.status.pubpublisheduk
dc.subjectпідвищення чутливостіuk
dc.subjectвеличина двопроменезаломленняuk
dc.subjectвимірювання фазиuk
dc.subjectмодуляційна поляриметріяuk
dc.subjectфотопружний мікроскопuk
dc.subjectсенсор переміщенняuk
dc.subjectsensitivity increaseen
dc.subjectthe value of the birefringenceen
dc.subjectthe phase measurementen
dc.subjectmodulation polarimetryen
dc.subjectphotoelastic microscopeen
dc.subjectdisplacement sensoren
dc.subjectповышение чувствительностиru
dc.subjectвеличина двулучепреломленияru
dc.subjectизмерения фазыru
dc.subjectмодуляционная поляриметрияru
dc.subjectфотоупругий микроскопru
dc.subjectсенсор перемещенияru
dc.subject.udc621.382.049.774:681.723.2]:535.568](043.3)uk
dc.titleПідвищення чутливості вимірювання мікроскопу нестаціонарної фотопружності для дослідження матеріалів електронікиuk
dc.typeThesisuk
thesis.degree.levelcandidateuk
thesis.degree.nameкандидат технічних наукuk
thesis.degree.speciality05.27.01 – твердотільна електронікаuk

Файли

Контейнер файлів
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
Oliinyk_aref.pdf
Розмір:
670.7 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Завантажити
Ліцензійна угода
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
7.8 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Зібрання

Автореферати (ЕПП)
Автореферати (вільний доступ)