Методики оцінювання метрологічних характеристик засобів вимірювальної техніки

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorМіхова, З. В.
dc.date.accessioned2019-07-03T07:25:02Z
dc.date.available2019-07-03T07:25:02Z
dc.date.issued2019
dc.description.abstractБули запропоновані методики оцінювання індивідуальних метрологічних характеристик ЗВТ з урахуванням комплексу інструментальних характеристик: систематичної похибки, випадкової похибки, варіації і дрейфу.uk
dc.event.date2019-05-15uk
dc.event.placeКПІ ім. Ігоря Сікорського, м. Київ, Українаuk
dc.format.pagerangeС. 458-461uk
dc.identifier.citationМіхова, З. В. Методики оцінювання метрологічних характеристик засобів вимірювальної техніки / З. В. Міхова // ХII Всеукраїнська науково-практична конференція студентів, аспірантів та молодих вчених «Погляд у майбутнє приладобудування», 15-16 травня 2019 р., м. Київ, Україна : збірник праць. – Київ : КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2019. – С. 458–461. – Бібліогр.: 2 назви.uk
dc.identifier.isbn978-611-01-1465-3
dc.identifier.urihttps://ela.kpi.ua/handle/123456789/28194
dc.language.isoukuk
dc.publisherКПІ ім. Ігоря Сікорськогоuk
dc.publisher.placeКиївuk
dc.sourceХII Всеукраїнська науково-практична конференція студентів, аспірантів та молодих вчених «Погляд у майбутнє приладобудування», 15-16 травня 2019 р., м. Київ, Україна : збірник працьuk
dc.subjectметодики оцінюванняuk
dc.subjectсистематична похибкаuk
dc.subjectвипадкова похибкаuk
dc.subjectдрейфuk
dc.subjectваріаціяuk
dc.subjectметрологічні характеристикиuk
dc.subject.udc53.088.228uk
dc.titleМетодики оцінювання метрологічних характеристик засобів вимірювальної технікиuk
dc.title.event«Погляд у майбутнє приладобудування», ХII Всеукраїнська науково-практична конференція студентів, аспірантів та молодих вченихuk
dc.typeArticleuk

Файли

Контейнер файлів
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
PUMPb-2019_Proceedings-Page458-461.pdf
Розмір:
699.08 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Опис:
Завантажити
Ліцензійна угода
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
9.06 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Зібрання

Секція 9. Метрологія та інформаційно-вимірювальні технології