Експериментальне дослідження деградації теплоізоляційної ефективності VIP руйнівним методом

Вантажиться...
Ескіз

Дата

2026

Науковий керівник

Назва журналу

Номер ISSN

Назва тому

Видавець

КПІ ім. Ігоря Сікорського

Анотація

У роботі наведено результати експериментального дослідження впливу втрати вакууму на теплоізоляційні властивості вакуумних ізоляційних панелей із використанням руйнівного методу. Дослідження проведено у натурних умовах за тепловим потоком і температурою. Встановлено, що ефективна теплопровідність одинарної цілісної (нерозгерметизованої) вакуумної панелі становить 0,0094–0,0105 Вт/(м·К), а для панелей у складі системи «VIP – повітря – VIP» (сендвіч) до яких був застосований руйнівний метод – 0,030–0,035 Вт/(м·К). Товщина одинарної панелі 30 мм, сендвічу 80 мм. Розгерметизація спричиняє стрибкоподібну деградацію теплопровідності, фактично прирівнюючи вакуумну ізоляційну панель до традиційних теплоізолюючих матеріалів. Отримані результати мають практичне значення для задач енергоаудиту, нормативного теплотехнічного розрахунку та проєктування огороджувальних конструкцій будівель, оскільки обґрунтовують необхідність урахування втрати вакууму як фактору деградації теплофізичних характеристик вакуумних ізоляційних панелей. Встановлені закономірності можуть бути використані для уточнення та розвитку розрахункових моделей теплообміну в теплотехнічній та будівельній фізиці. Бібл. 5, рис. 1.

Опис

Ключові слова

вакуумна ізоляційна панель, коефіцієнт теплопровідності, огороджувальна конструкція, ефективна теплопровідність, енергоефективність, vacuum insulation panel, thermal conductivity coefficient, building envelope, effective thermal conductivity, energy efficiency

Бібліографічний опис

Данішевський, А. С. Експериментальне дослідження деградації теплоізоляційної ефективності VIP руйнівним методом / А. С. Данішевський, Б. І. Басок // Аспірантські читання імені професора Артура Веніаміновича Праховника : матеріали наукової конференції, [Київ], 21-23 квітня 2026 р. / КПІ ім. Ігоря Сікорського. – Київ, 2026. – С. 116-119.

ORCID

DOI