Порівняльний аналіз методів побудови тестів для цифрових пристроїв

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorКуліков, В. М.
dc.date.accessioned2023-08-16T07:20:23Z
dc.date.available2023-08-16T07:20:23Z
dc.date.issued2012
dc.description.abstractРозглядається проблема низької ефективності відомих детермінованих методів побудови тестів для цифрових схем. Показано, що головною причиною їх непридатності для складних схем є некерований перебір всіх комбінацій сигналів, які забезпечують прояв несправності на виході елемента з дефектом, та сигналів, які забезпечують транспортування викривленого сигналу до одного з виходів схеми. Результатом поведеного аналізу є висновок стосовно надання переваги при побудові тестів методу фокусованого пошуку.uk
dc.description.abstractotherРассматривается проблема низкой эффективности известных детерминированных методов построения тестов для цифровых схем. Показано, что главной причиной их непригодности для сложных схем является неуправляемый перебор всех комбинаций сигналов, которые обеспечивают проявление неисправности на выходе элемента с дефектом, и сигналов, которые обеспечивают транспортировку искаженного сигнала к одному из выходов схемы. Результатом поведенного анализа является вывод о предпочтительности выбора метода фокусируемого поиска для построения тестов.uk
dc.description.abstractotherAnnotation: Considers the problem of low efficiency of the known deterministic methods for constructing tests for digital circuits. Showed that the main reason of their unsuitability for complex circuits is uncontrolled search of the all combinations of signals, that provide the display of fault on the output of faulty element, and the signals, that provide transporting of the distorted signal to one of circuits output. The result of the analysis is the conclusion about the preference of choice of the focused search method for tests construction.uk
dc.format.pagerangePp. 34-44uk
dc.identifier.citationКуліков, В. Порівняльний аналіз методів побудови тестів для цифрових пристроїв / Куліков В. М. // Information Technology and Security. – 2012. – Vol. 1, Iss. 2 (2). – Pp. 34–44. – Bibliogr.: 12 ref.uk
dc.identifier.doihttps://doi.org/10.20535/2411-1031.2012.1.2.54985
dc.identifier.issn2411-1031 (Print)
dc.identifier.issn2518-1033 (Online)
dc.identifier.urihttps://ela.kpi.ua/handle/123456789/59229
dc.language.isoukuk
dc.publisherInstitute of Special Communication and Information Protection of National Technical University of Ukraine “Igor Sikorsky Kyiv Polytechnic Institute”uk
dc.publisher.placeKyivuk
dc.relation.ispartofInformation Technology and Security, Vol. 1, Iss. 2 (2)uk
dc.rights.urihttps://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
dc.subject.udc681.326.7uk
dc.titleПорівняльний аналіз методів побудови тестів для цифрових пристроївuk
dc.typeArticleuk

Файли

Контейнер файлів
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
54985-111923-1-10-20151128.pdf
Розмір:
376.94 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Опис:
Завантажити
Ліцензійна угода
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
9.1 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Зібрання

Information Technology and Security, Vol. 1, Iss. 2 (2)