Вимірювання НВЧ параметрів матеріалів методом неоднорідного мікросмужкового резонатора

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorТатарчук, Дмитро Дмитрович
dc.contributor.authorМолчанов, Віталій Іванович
dc.contributor.authorДіденко, Юрій Вікторович
dc.contributor.authorСергєєв, Михайло Сергійович
dc.contributor.authorПоплавко, Юрій Михайлович
dc.contributor.authorTatarchuk, Dmytro Dmytrovych
dc.contributor.authorMolchanov, Vitalii Ivanovych
dc.contributor.authorDidenko, Yurii Viktorovych
dc.contributor.authorSerheev, Myhailo Serhiiovych
dc.contributor.authorPoplavko, Yurii Myhailovych
dc.contributor.authorТатарчук, Дмитрий Дмитриевич
dc.contributor.authorМолчанов, Виталий Иванович
dc.contributor.authorДиденко, Юрий Викторович
dc.contributor.authorСергеев, Михаил Сергеевич
dc.contributor.authorПоплавко, Юрий Михайлович
dc.date.accessioned2017-07-25T10:04:30Z
dc.date.available2017-07-25T10:04:30Z
dc.date.issued2016
dc.description.abstractenIn this paper the method for measuring the dielectric constant and dielectric loss tangent of the dielectric material in the microwave range of wavelengths using the inhomogeneous microstrip resonator is presented. The measurement technique and the design of the measuring cell are described, the theoretical basis of the method and results of experimental studies are given.en
dc.description.abstractruВ статье представлен метод измерения диэлектрической проницаемости и тангенса угла диэлектрических потерь диэлектрических материалов в микроволновом диапазоне длин волн с помощью неоднородного микрополоскового резонатора. Описаны методика измерений и конструкция измерительной ячейки, приведены теоретическое обоснование метода и результаты экспериментальных исследований.ru
dc.description.abstractukУ статті представлено метод вимірювання діелектричної проникності й тангенса кута діелектричних втрат діелектричних матеріалів у мікрохвильовому діапазоні довжин хвиль за допомогою неоднорідного мікросмужкового резонатора. Описано методику вимірювань та конструкцію вимірювальної комірки, наведено теоретичне обґрунтування методу та результати експериментальних досліджень.uk
dc.format.pagerangeС. 6-9uk
dc.identifier.citationВимірювання НВЧ параметрів матеріалів методом неоднорідного мікросмужкового резонатора / Д. Д. Татарчук, В. І. Молчанов, Ю. В. Діденко, М. С. Сергєєв, Ю. М. Поплавко // Електроніка та зв'язок : науково-технічний журнал. – 2016. – Т. 21, № 2(91). – С. 6–9. – Бібліогр.: 9 назв.uk
dc.identifier.doihttp://dx.doi.org/10.20535/2312-1807.2016.21.2.57146
dc.identifier.urihttps://ela.kpi.ua/handle/123456789/20116
dc.language.isoukuk
dc.publisherНТУУ «КПІ»uk
dc.publisher.placeКиївuk
dc.sourceЕлектроніка та зв'язок : науково-технічний журнал, Т. 21, № 2(91)uk
dc.status.pubpublisheduk
dc.subjectмікросмужковий резонаторuk
dc.subjectдіелектричні матеріалиuk
dc.subjectрезонансна частотаuk
dc.subjectдіелектрична проникністьuk
dc.subjectтангенс кута діелектричних втратuk
dc.subjectНВЧ параметриuk
dc.subjectmicrostrip resonatorsen
dc.subjectdielectric materialsen
dc.subjectresonant frequencyen
dc.subjectdielectric permittivityen
dc.subjectdielectric loss tangent angleen
dc.subjectmicrowave parametersen
dc.subjectмикрополосковый резонаторru
dc.subjectдиэлектрические материалыru
dc.subjectрезонансная частотаru
dc.subjectдиэлектрическая проницаемостьru
dc.subjectтангенс угла диэлектрических потерьru
dc.subjectСВЧ параметрыru
dc.subject.udc621.372.41uk
dc.titleВимірювання НВЧ параметрів матеріалів методом неоднорідного мікросмужкового резонатораuk
dc.title.alternativeMeasuring of the microwave materials parameters on the base of the inhomogeneous microstrip resonator methoden
dc.title.alternativeИзмерение СВЧ параметров материалов методом неоднородного микрополоскового резонатораru
dc.typeArticleuk
thesis.degree.level-uk

Файли

Контейнер файлів
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
EiS2016-2_1Таtarchuk.pdf
Розмір:
481.46 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Завантажити
Ліцензійна угода
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
7.8 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Зібрання

Електроніка та зв'язок: науково-технічний журнал, Т. 21, № 2(91)