Про автоматизацію тестування у порівнянні із функціональним тестуванням

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorТесленко, О. К.
dc.contributor.authorСенеджук, А. Ю.
dc.date.accessioned2023-05-26T08:13:30Z
dc.date.available2023-05-26T08:13:30Z
dc.date.issued2022
dc.description.abstractЗбої, виявлені у процесі тестування, найчастіше породжуються дефектами та помилками, присутніми в тестовій програмній системі. Також вони можуть бути наслідком поведінки операційного чи тестового оточення. Такі дефекти можуть і частіше всього повинні аналізуватися для визначення моменту та місця першої появи даного дефекту в системі, які типи помилок стали причиною цих дефектів і коли їх виявили вперше. Вся ця інформація використовується для визначення того, як же покращувати сам процес тестування і наскільки критична необхідність таких вдосконалень.uk
dc.description.abstractotherFailures discovered during the testing process are most common are caused by defects and errors present in the test software system. They can also be a consequence of behavior operational or test environment. Such defects can be more frequent all must be analyzed to determine the moment and place of the first appearance of this defect in the system, what types of errors caused it of these defects and when they were first discovered. All this information is used to determine how to improve the testing process itself and how critical the need for such improvements is.uk
dc.format.pagerangeС. 372-374uk
dc.identifier.citationТесленко, О. К. Про автоматизацію тестування у порівнянні із функціональним тестуванням / Тесленко О. К., Сенеджук А. Ю. // Прикладна математика та комп’ютинг ПМК' 2022. П'ятнадцята конференція магістрантів та аспірантів Київ, 16-18 листопада 2022 р. : збірник тез доповідей. - Київ : КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2022. - С. 372-374.uk
dc.identifier.urihttps://ela.kpi.ua/handle/123456789/56180
dc.language.isoukuk
dc.publisherКПІ ім. Ігоря Сікорськогоuk
dc.publisher.placeКиївuk
dc.relation.ispartofПрикладна математика та комп’ютинг ПМК' 2022. П'ятнадцята конференція магістрантів та аспірантів Київ, 16-18 листопада 2022 р. : збірник тез доповідейuk
dc.subject.udc004.4’6uk
dc.titleПро автоматизацію тестування у порівнянні із функціональним тестуваннямuk
dc.typeArticleuk

Файли

Контейнер файлів
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
SPSKS-Teslenko_Senedzhuk_P372-374.doc
Розмір:
79 KB
Формат:
Microsoft Word
Опис:
Завантажити
Ліцензійна угода
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
9.1 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Зібрання

Секція 2. СПСКС «Комп’ютерні науки, комп’ютерна інженерія»