Аналіз похибок юстування оптичної системи дифрактометра в комп'ютерно-інтегрованій системі контролю показників якості скла оптичного силікатного

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorСкалозуб, О. В.
dc.date.accessioned2022-04-02T18:19:11Z
dc.date.available2022-04-02T18:19:11Z
dc.date.issued2021-05
dc.description.abstractukУ даній роботі проведено аналіз похибок юстування оптичної системи і способи їх зменшення, побудовано графіки, де показано вплив поперечних зміщень на частотну похибку. Аналіз оптичних систем когерентних спектроаналізаторів.uk
dc.format.pagerangeС. 167-170uk
dc.identifier.citationСкалозуб, О. В. Аналіз похибок юстування оптичної системи дифрактометра в комп'ютерно-інтегрованій системі контролю показників якості скла оптичного силікатного / О. В. Скалозуб // ХIV Науково-практична конференція студентів, аспірантів та молодих вчених «Погляд у майбутнє приладобудування», 18-19 травня 2021 р., м. Київ, Україна : збірник праць конференції. – Київ : КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2021. – С. 167-170. – Бібліогр.: 5 назв.uk
dc.identifier.urihttps://ela.kpi.ua/handle/123456789/46799
dc.language.isoukuk
dc.publisherКПІ ім. Ігоря Сікорськогоuk
dc.publisher.placeКиївuk
dc.sourceХIV Науково-практична конференція студентів, аспірантів та молодих вчених «Погляд у майбутнє приладобудування», 18-19 травня 2021 р., м. Київ, Україна : збірник праць конференціїuk
dc.subjectаналізuk
dc.subjectавтоматизація зменшення похибок юстуванняuk
dc.subjectдефектиuk
dc.subjectпохибка юстування оптичної системиuk
dc.subject.udc621.391uk
dc.titleАналіз похибок юстування оптичної системи дифрактометра в комп'ютерно-інтегрованій системі контролю показників якості скла оптичного силікатногоuk
dc.typeArticleuk

Файли

Контейнер файлів
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
Page 167-170.pdf
Розмір:
803.78 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Опис:
Завантажити
Ліцензійна угода
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
9.01 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Зібрання

Секція 3. Комп’ютерно-інтегровані технології виробництва приладів