Аналіз методів топологічної оптимізації при проектувнні елементів приладів

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorМастенко, І. В.
dc.contributor.authorСтельмах, Н. В.
dc.date.accessioned2020-07-21T06:38:47Z
dc.date.available2020-07-21T06:38:47Z
dc.date.issued2020
dc.description.abstractУ даній статті розглянуто основні методи оптимізації топології конструкції: ESO (метод еволюційної оптимізації конструкцій), BESO (двобічний метод еволюції оптимізації конструкції), SIMP (метод пеналізації для твердого ізотропного тіла) Приведені теоретичні основи методологій та області застосування. Виділені їх переваги та недоліки.uk
dc.format.pagerangeС. 109-111uk
dc.identifier.citationМастенко, І. В. Аналіз методів топологічної оптимізації при проектувнні елементів приладів / І. В. Мастенко, Н. В. Стельмах // ХIII Науково-практична конференція студентів, аспірантів та молодих вчених «Погляд у майбутнє приладобудування», 13-14 травня 2020 р., м. Київ, Україна : збірник праць конференції. – Київ : КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2020. – С. 109–111. – Бібліогр.: 4 назви.uk
dc.identifier.urihttps://ela.kpi.ua/handle/123456789/35160
dc.language.isoukuk
dc.publisherКПІ ім. Ігоря Сікорськогоuk
dc.publisher.placeКиївuk
dc.sourceХIII Науково-практична конференція студентів, аспірантів та молодих вчених «Погляд у майбутнє приладобудування», 13-14 травня 2020 р., м. Київ, Україна : збірник праць конференціїuk
dc.subjectтопологічна оптимізаціїuk
dc.subjectметод еполюційної оптимізації конструкціїuk
dc.subjectдвобічний метод еволюції оптимізації конструкціїuk
dc.subjectметод пеналізації для твердого ізотропного тілаuk
dc.subject.udc629.7uk
dc.titleАналіз методів топологічної оптимізації при проектувнні елементів приладівuk
dc.typeArticleuk

Файли

Контейнер файлів
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
PUMPB_2020_p109-111.pdf
Розмір:
519.13 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Опис:
Завантажити
Ліцензійна угода
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
9.06 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Зібрання

Секція 3. Комп’ютерно-інтегровані технології виробництва приладів