Особливості приповерхневої провідності кремнієвих мікроструктур за низьких температур

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorДружинін, Анатолій Олександрович
dc.contributor.authorОстровський, Ігор Петрович
dc.contributor.authorХоверко, Юрій Миколайович
dc.contributor.authorКучерепа, Назар Ігорович
dc.date.accessioned2020-04-29T18:30:50Z
dc.date.available2020-04-29T18:30:50Z
dc.date.issued2018
dc.description.abstractenResearch in the field of magnetoelectronics opens up the possibility of creating sensitive sensors of a magnetic field based on deluted semiconductors. On the other hand, the performance of devices in difficult operating conditions, namely at cryogenic temperatures, including the temperatures of liquefied helium, is no less difficult and an important problem. In this work, considerable attention is paid to establishing the relationship between magnetic and magneto-trasport properties of silicon microcrystals doped by boron to concentrations in the vicinity of the metal-dielectric phase transition, which is important in the development of magnetic field sensors, spin valves, etc. The peculiarities of transferring charge carriers of silicon microcrystals to doped boron to concentrations corresponding to the transition of metal-dielectric and nickel, located in the near-surface area of he crystal, are investigated. The magnetization of up to 0,4 Т and the magnetoresistance of filamentous microcrystals of silicon under the action of magnetic fields up to 14 T for temperatures of 4.2 K were studied. A detailed analysis of the results of theoretical studies of magnetic and magnetic transport properties Si <B, Ni> was carried out. The quadratic nature of the dependence of the negative magnetoresistance on the magnetization in silicon microcrystals is established for the magnetization exceeding 5 ∙ 10^5 A / m. However, for small M up 5∙10^5 A/m, the quadratic dependence of the magnetoresistance on the magnetization is violated, which is connected with the hopping mechanism of carrier transport over one occupied impurity levels. The coefficient of proportionality between the magnetoresistance and the magnetization of the crystals increases if the impurity concentration increases, approaching the transition of the metal-dielectric, and the temperature becomes lower. The maximum value of the negative magnetoresistance coefficient for the investigated filamentary samples Si <B, Ni> is about 10%, corresponding to the magnetization of the sample, equal to 6.53 ∙10^5 A/m. It was established that the basis of the low-temperature transfer of charge carriers for silicon microcrystals doped by a boron impurity to the concentration corresponding to the transition of a metal dielectric and a magnetic impurity is the polarization hopping conductivity. The large magnitudes of the negative magnetoresistance correspond to the hopping conductivity of charge carriers by twice occupied admixture states. It was established that the introduction of a magnetic impurity could affect the electromagnetic properties of the crystal associated with the transport of charge carriers by hopping tunneling in the near-surface zone. The results of low-temperature properties of silicon microcrystals doped with boron and nickel can form the basis of the development of sensitive sensors of a magnetic field with a thermoresistive principle of operation, including multifunctional sensors.uk
dc.description.abstractruИсследованы особенности переноса носителей заряда микрокристаллов кремния, легированных бором до концентраций, которые соответствуют переходу металл-диэлектрик, и никелем, что находится в приповерхностной области кристалла. Исследована намагниченность до 0,4 Тл и магнетосопротивление нитевидных микрокристаллов кремния под воздействием магнитных полей до 14 Тл при температуре 4,2 К. Проведен детальный анализ результатов теоретических исследований магнитных и магнитотранспортных свойств Si <B, Ni>. Установлен квадратичный характер зависимости коэффициента отрицательного магнетосопротивления от намагниченности в микрокристаллах кремния для интервала намагниченности больше 5×10^5 A/м, что соответствует прыжковой проводимости носителей заряда по дважды занятым примесным состояниям. Вместе с тем для малых М до 5×10^5 A/м нарушается квадратичная зависимость магнитосопротивления от намагниченности, что связано с прыжковым механизмом переноса носителей заряда по однозанятым примесным уровням. Установлено, что введение магнитной примеси может повлиять на электромагнитные свойства кристалла, связанные с транспортом носителей заряда путем прыжкового туннелирования в приповерхностной зоне.uk
dc.description.abstractukДосліджено особливості перенесення носіїв заряду мікрокристалів кремнію, легованих бором до концентрацій, які відповідають переходу метал-діелектрик, та нікелем, що знаходиться у приповерхневій області кристала. Досліджено намагніченість до 0,4 Тл та магнетоопір ниткоподібних мікрокристалів кремнію під дією магнітних полів до 14 Тл за температури 4,2 К. Проведено детальний аналіз результатів теоретичних досліджень магнітних та магнітотранспортних властивостей Si<B, Ni>. Встановлено квадратичний характер залежності коефіцієнту від’ємного магнетоопору від намагніченості в мікрокристалах кремнію для інтервалу намагніченості більше 5×10^5 A/м, що відповідає стрибковій провідності носіїв заряду по двічі зайнятим домішковим станам. Натомість для малих М до 5×10^5 A/м порушується квадратична залежність магнетоопору від намагніченості, що пов’язано із стрибковим механізмом перенесення носіїв заряду по однозайнятим домішковим рівням. Встановлено, що введення магнітної домішки може вплинути на електромагнітні властивості кристала, пов'язані з транспортом носіїв заряду шляхом стрибкового тунелювання в приповерхневій зоні.uk
dc.format.pagerangeС. 6-13uk
dc.identifier.citationОсобливості приповерхневої провідності кремнієвих мікроструктур за низьких температур / Дружинін А. О., Островський І. П., Ховерко Ю. М., Кучерепа Н. І. // Мікросистеми, Електроніка та Акустика : науково-технічний журнал. – 2018. – Т. 23, № 3(104). – С. 6–13. – Бібліогр.: 30 назв.uk
dc.identifier.doihttps://doi.org/10.20535/2523-4455.2018.23.3.130790
dc.identifier.urihttps://ela.kpi.ua/handle/123456789/33132
dc.language.isoukuk
dc.publisherКПІ ім. Ігоря Сікорськогоuk
dc.publisher.placeКиївuk
dc.rights.urihttps://creativecommons.org/licenses/by/4.0/uk
dc.sourceМікросистеми, Електроніка та Акустика : науково-технічний журнал, 2018, Т. 23, № 3(104)uk
dc.subjectстрибкова провідністьuk
dc.subjectмікрокристалuk
dc.subjectнегативний магнетоопірuk
dc.subjectспінuk
dc.subjectкріогенні температуриuk
dc.subjecthopping conductanceuk
dc.subjectwhiskersuk
dc.subjectnegative magnetoresistanceuk
dc.subjectspinuk
dc.subjectcryogenic temperaturesuk
dc.subjectпрыжковая проводимостьuk
dc.subjectмикрокристаллuk
dc.subjectотрицательное магнетосопротивлениеuk
dc.subjectспинuk
dc.subjectкриогенные температурыuk
dc.subject.udc621.315.592uk
dc.titleОсобливості приповерхневої провідності кремнієвих мікроструктур за низьких температурuk
dc.title.alternativeFeatures of the Surface Conductivity of Silicon Microstructures at Low Temperaturesuk
dc.title.alternativeОсобенности поверхностной проводимости кремниевых микроструктур при низких температурахuk
dc.typeArticleuk

Файли

Контейнер файлів
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
MEA2018_23-3_6-13.pdf
Розмір:
521.54 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Опис:
Завантажити
Ліцензійна угода
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
9.06 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Зібрання

Мікросистеми, Електроніка та Акустика: науково-технічний журнал, Т. 23, № 3(104)