Система автоматизованого моніторингу мікроклімату виробничих приміщень приладобудівних підприємств

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorМарченко, В. Ю.
dc.contributor.authorВонсевич, К. П.
dc.date.accessioned2021-03-17T10:30:30Z
dc.date.available2021-03-17T10:30:30Z
dc.date.issued2020-12
dc.description.abstractukВ даній статті розглянуто типові системи для виміру параметрів мікроклімату виробничих приміщень, описано їх недоліки та розроблено власну систему для виміру параметрів мікроклімату на базі мікроконтролера ESP8266.uk
dc.format.pagerangeС. 400-403uk
dc.identifier.citationМарченко, В. Ю. Система автоматизованого моніторингу мікроклімату виробничих приміщень приладобудівних підприємств / В. Ю. Марченко, К. П. Вонсевич // XVI Всеукраїнська науково-практична конференція студентів, аспірантів та молодих вчених «Ефективність та автоматизація інженерних рішень у приладобудуванні», 08-09 грудня 2020 року, м. Київ, Україна : збірник праць конференції. – Київ : КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2020. – С. 400-403. – Бібліогр.: 6 назв.uk
dc.identifier.urihttps://ela.kpi.ua/handle/123456789/40056
dc.language.isoukuk
dc.publisherКПІ ім. Ігоря Сікорськогоuk
dc.publisher.placeКиївuk
dc.sourceXVI Всеукраїнська науково-практична конференція студентів, аспірантів та молодих вчених «Ефективність та автоматизація інженерних рішень у приладобудуванні», 8-9 грудня 2020 року, м. Київ, Україна : збірник праць конференціїuk
dc.subjectмікроконтролер ESP8266uk
dc.subjectOne-Wireuk
dc.subjectIoTuk
dc.subjectSmart Griduk
dc.titleСистема автоматизованого моніторингу мікроклімату виробничих приміщень приладобудівних підприємствuk
dc.typeArticleuk

Файли

Контейнер файлів
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
ЕАІРП_2020 - Page 400-403.pdf
Розмір:
537.44 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Опис:
Завантажити
Ліцензійна угода
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
9.01 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Зібрання

Секція 10. Ефективні інженерні рішення у інформаційновимірювальних технологіях