Статистика для Підвищення чутливості вимірювання мікроскопу нестаціонарної фотопружності для дослідження матеріалів електроніки

Всього відвідувань

views
Підвищення чутливості вимірювання мікроскопу нестаціонарної фотопружності для дослідження матеріалів електроніки 133

Всього відвідувань за місяць

views
січня 2026 0
лютого 2026 0
березня 2026 0
квітня 2026 0
травня 2026 0
червня 2026 2
липня 2026 0

Скачувань файлів

views
Oliinyk_diss.pdf 774

Топ за країнами

views
Сполучені Штати 64
Україна 20
Китай 13
Вʼєтнам 4
Швейцарія 3
Франція 2
Швеція 2
Австрія 1
Канада 1
Німеччина 1
Гонконг, ОАР Китаю 1
Молдова 1
Росія 1

Топ за містами

views
Kiev 15
San Ramon 15
Louisville 9
Ashburn 4
Burlington 4
Hanoi 4
Cern 3
Boardman 2
Changqiao (Xuhui Qu) 2
Fairfield 2
Hebei 2
Mountain View 2
Nanchang 2
San Francisco 2
Ann Arbor 1
Boulder 1
Changshu 1
Chernihiv 1
Cheyenne 1
Des Moines 1
Dnepropetrovsk 1
Hangzhou 1
Kunming 1
Nanjing 1
Ningbo 1
North Point 1
Pohreby 1
Saint-genis-pouilly 1
San Jose 1
Stockholm 1
Sumy 1
Tiraspol 1
Vienna 1
Winnipeg 1
Zhengzhou 1