Статистика для Метод електронної мікроскопії для дослідження підповерхневих дефектів електронних компонентів та ІС
Всього відвідувань
| views | |
|---|---|
| Метод електронної мікроскопії для дослідження підповерхневих дефектів електронних компонентів та ІС | 29 |
Всього відвідувань за місяць
| views | |
|---|---|
| червня 2024 | 0 |
| липня 2024 | 0 |
| серпня 2024 | 0 |
| вересня 2024 | 0 |
| жовтня 2024 | 0 |
| листопада 2024 | 5 |
| грудня 2024 | 0 |
Скачувань файлів
| views | |
|---|---|
| Luhova_bakalavr.pdf | 152 |
Топ за країнами
| views | |
|---|---|
| Сполучені Штати | 15 |
| Україна | 12 |
| Канада | 1 |
| Німеччина | 1 |
Топ за містами
| views | |
|---|---|
| San Mateo | 10 |
| Kiev | 6 |
| Kharkiv | 5 |
| Ashburn | 1 |
| Calgary | 1 |
| Louisville | 1 |
| Mountain View | 1 |
| Zaporozhye | 1 |