Секція 9. Метрологія та інформаційно-вимірювальні технології

Постійне посилання зібрання

https://ela.kpi.ua/handle/123456789/33614

Переглянути

Зараз показуємо 1 - 2 з 2

Відкритий доступ
Система визначення рівня шорсткості оброблених поверхонь
(КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2020) Шумілін, А. Г.; Яремчук, Н. А.
Відкритий доступ
Система діагностування наявності сторонніх утворень в судинах
(КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2020) Шорін, А. І.; Яремчук, Н. А.