root.skip-to-content
English
Українська
Увійти
Вхід з ORCID
Email
Пароль
Увійти
Новий користувач? Зареєструйтесь.
Забули пароль?
Фонди та зібрання
Пошук за критеріями
Статистика
English
Українська
Увійти
Вхід з ORCID
Email
Пароль
Увійти
Новий користувач? Зареєструйтесь.
Забули пароль?
Головна
Матеріали конференцій, семінарів і т.п.
Погляд у майбутнє приладобудування (13 ; 2020 ; Київ)
Секція 9. Метрологія та інформаційно-вимірювальні технології
Секція 9. Метрологія та інформаційно-вимірювальні технології
Постійне посилання зібрання
https://ela.kpi.ua/handle/123456789/33614
Переглянути
Нові надходження
За датою
За автором
За назвою
За темою
Нові надходження
За датою
За автором
За назвою
За темою
Нові надходження
Зараз показуємо
1 - 3 з 3
Вантажиться...
Документ
Відкритий доступ
Система визначення рівня шорсткості оброблених поверхонь
(
КПІ ім. Ігоря Сікорського
,
2020
)
Шумілін, А. Г.
;
Яремчук, Н. А.
Показати більше
Вантажиться...
Документ
Відкритий доступ
Система діагностування наявності сторонніх утворень в судинах
(
КПІ ім. Ігоря Сікорського
,
2020
)
Шорін, А. І.
;
Яремчук, Н. А.
Показати більше
Вантажиться...
Документ
Відкритий доступ
Метрологічний аналіз пристрою контролю змочування припоєм основного матеріалу паяння
(
КПІ ім. Ігоря Сікорського
,
2020
)
Завальський, В. І.
;
Чуйко, М. М.
Показати більше