(КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2022) Куликівський, О. В.
Розглянуто питання контролю статистичних характеристик періодичної структури деталей типу дифракційної гратки, які використовуються у спектральних приладах, електромагнітних випромінювачах. Наведено алгоритм функціонування і функціональну блок-сему автоматизованої системи контроля періодичної структури ліній затримки.