Кафедра мікроелектроніки (МЕ)

Постійне посилання на фонд

https://ela.kpi.ua/handle/123456789/209

Переглянути

Перегляд Кафедра мікроелектроніки (МЕ) за Автор "Абраімов, Олексій Валерійович"

Зараз показуємо 1 - 2 з 2
  • Ескіз
    ДокументВідкритий доступ
    Визначення основних електрофізичних параметрів структур метал-діелектрик-напівпровідник за вольт-фарадними характеристиками
    (КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2020) Абраімов, Олексій Валерійович; Королевич, Любомир Миколайович
    Дипломна робота виконана на 60 сторінках, що містять 4 розділи, 28 ілюстрацій, 20 джерел посилань. Об’єктом дослідження є вольт-фарадні характеристики структури метал-діелектрик-напівпровідник. Предметом є порівняння результатів дослідження електрофізичних параметрів за ВФХ відомими методами. Метою роботи є порівняння відомих методів визначення електрофізичних параметрів МДН-структури. Перший розділ присвячений основним поняттям та процесам, що спостерігаються в МДН-структурі. Визначено поняття ідеальної МДН-структури, порогової напруги, напруги плоских зон. Проведено невелику характеристику high-k матеріалів. У другому розділі розглянута методика визначення параметрів структури за класичним методом та проведене їх експериментальне дослідження. У третьому розділі обґрунтовано вплив зарядових станів на ВФХ системи. Проведено аналіз зарядових станів, що виникають на напівпровіднику. Четвертий розділ присвячений проведенню експерименту для дослідження розподілу заряду на межі розподілу діелектрик-напівпровідник різними методами.
  • Ескіз
    ДокументВідкритий доступ
    Підготовка зразків для металографічного контролю якості
    (КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2021) Абраімов, Олексій Валерійович; Верцанова, Олена Вікторівна
    Об’єктом дослідження є багатошаровий конденсатор. Предметом дослідження є визначення основних характеристик, необхідних для металографічного аналізу структури багатошарового конденсатору та визначення методу пробопідготовки. Мета роботи – розробка методики пробопідготовки для отримання оптичного зображення багатошарового конденсатору. В першому розділі описується поняття мікроскопії, її методи та принцип дії металографічного мікроскопа. В другому розділі описані основні методи світлової мікроскопії, деякі методи порівнянні між собою, виведені позитивні та негативні сторони кожного з методів. Третій розділ присвячений підготовці зразків для подальшого металографічного аналізу. Було розглянуто кожен з етапів пробопідготовки та розібрані проблеми, що можуть виникати на кожного з цих етапів. В четвертому розділі описано процес отримання оптичного зображення керамічного багатошарового конденсатора. Розібрана методика підготовки такого зразка для металографічного контролю якості. В п’ятому розділі описується розробка стартап проекту та оцінюється його рентабельність та конкурентоспроможність.