root.skip-to-content
English
Українська
Увійти
Вхід з ORCID
Email
Пароль
Увійти
Забули пароль?
Фонди та зібрання
Пошук за критеріями
English
Українська
Увійти
Вхід з ORCID
Email
Пароль
Увійти
Забули пароль?
Головна
Матеріали конференцій, семінарів і т.п.
Приладобудування: стан і перспективи (21 ; 2022 ; Київ)
Секція 11. Метрологія та інформаційно-вимірювальні технології
Переглянути за ключовими словами
Секція 11. Метрологія та інформаційно-вимірювальні технології
Постійне посилання зібрання
https://ela.kpi.ua/handle/123456789/48850
Переглянути
Нові надходження
За датою
За автором
За назвою
За темою
Нові надходження
За датою
За автором
За назвою
За темою
Перегляд Секція 11. Метрологія та інформаційно-вимірювальні технології за Ключові слова "006.91:681.121"
Перейти
browse.back.all-results
Зараз показуємо
1 - 1 з 1
Результатів на сторінці
1
5
10
20
40
60
80
100
Налаштування сортування
У порядку збільшення
У порядку зменшення
Вантажиться...
Документ
Відкритий доступ
Метрологічні аспекти процесів генної інженерії
(
КПІ ім. Ігоря Сікорського
,
2022
)
Майор, А. Ю.
;
Самойліченко, О. В.
Показати більше