Метрологічні аспекти процесів генної інженерії
Вантажиться...
Дата
2022
Автори
Науковий керівник
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
КПІ ім. Ігоря Сікорського
Анотація
Опис
Ключові слова
генна інженерія, метрологічне забезпечення, транскрипційна одиниця
Бібліографічний опис
Майор, А. Ю. Метрологічні аспекти процесів генної інженерії / Майор А. Ю., Самойліченко О. В. // XХI Міжнародна науково-технічна конференція “Приладобудування: стан і перспективи”, 17 – 18 травня 2022 р., Київ, Україна : збірник матеріалів конференції. – Київ : КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2022. – С. 263-265. – Бібліогр.: 3 назви.