Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://ela.kpi.ua/handle/123456789/10570
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorНелін, Є. А.-
dc.contributor.authorNelin, E. A.-
dc.contributor.authorНелин, Е. А.-
dc.date.accessioned2015-02-20T10:30:02Z-
dc.date.available2015-02-20T10:30:02Z-
dc.date.issued2010-
dc.identifier.citationНелін, Є. А. Радіотехнічні та оптичні моделі в наноелектроніці / Є. А. Нелін // Вісник НТУУ «КПІ». Радіотехніка, радіоапаратобудування : збірник наукових праць. – 2010. – № 43. – С. 32–50. – Бібліогр.: 15 назв.uk
dc.identifier.urihttps://ela.kpi.ua/handle/123456789/10570-
dc.language.isoukuk
dc.subjectімпедансuk
dc.subjectквантова механікаuk
dc.subjectнаноелектронікаuk
dc.subjectimpedanceuk
dc.subjectquantum mechanicsuk
dc.subjectnanoelectronicsuk
dc.subjectимпедансuk
dc.subjectквантовая механикаuk
dc.subjectнаноэлектроникаuk
dc.titleРадіотехнічні та оптичні моделі в наноелектроніціuk
dc.title.alternativeRadioengineering and optic models in nanoelectronicsuk
dc.title.alternativeРадиотехнические и оптические модели в наноэлектроникеuk
dc.typeArticleuk
thesis.degree.level-uk
dc.format.pageС. 32-50uk
dc.status.pubpublisheduk
dc.publisher.placeКиївuk
dc.source.nameВісник НТУУ «КПІ». Радіотехніка, радіоапаратобудування : збірник наукових працьuk
dc.subject.udc621.372.543uk
dc.description.abstractukРозглянуто застосування радіотехнічних та оптичних моделей в задачах наноелектроніки. Отримано аналітичні вирази для резонансних параметрів і характеристик типових бар'єрних структур. Наведено характеристики, що ілюструють ефективність такого підходуuk
dc.description.abstractenApplication of radioengineering and optic models to nanoelectronic problems is discussed. Analytical expressions for resonant parameters and characteristics of typical barrier structures are received. Characteristics illustrating the efficiency of such approach are presenteduk
dc.description.abstractruРассмотрено применение радиотехнических и оптических моделей в задачах наноэлектроники. Получены аналитические выражения для резонансных параметров и характеристик типичных барьерних структур. Приведены характеристики, которые иллюстрируют эффективность такого подхода.uk
dc.publisherНТУУ «КПІ»uk
Appears in Collections:Вісник НТУУ «КПІ». Радіотехніка, радіоапаратобудування: збірник наукових праць, № 43

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
43_032Nelin.pdf739.8 kBAdobe PDFThumbnail
View/Open
Show simple item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.