Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://ela.kpi.ua/handle/123456789/18161
Title: Спосіб визначення RMS опромінення зображення протяжного джерела методом мікрофотометрії
Other Titles: Method of Determination of RMS Exposure of Extended Source Image by Microphotometry
Способ определения RMS облучения изображения протяженного источника методом микрофотометрии
Authors: Чиж, Ігор Генріхович
Голембовський, Олександр Олексійович
Chyzh, Igor G.
Holembovsky, Oleksandr O.
Чиж, Игорь Генрихович
Голембовский, Александр Алексеевич
Keywords: RMS зображення протяжного джерела
RMS абераційної плями
мікрофотометрія зображення джерела світла
RMS image extended source
RMS operating spots
microphotometry image light source
RMS изображения протяженного источника
RMS аберрационного пятна
микрофотометрия изображения источника света
Issue Date: 2016
Publisher: НТУУ «КПІ»
Citation: Чиж І. Г. Спосіб визначення RMS опромінення зображення протяжного джерела методом мікрофотометрії / І. Г. Чиж, О. О. Голембовський// Наукові вісті НТУУ «КПІ» : міжнародний науково-технічний журнал. – 2016. – № 1(105). – С. 124–130. – Бібліогр.: 7 назв.
URI: https://ela.kpi.ua/handle/123456789/18161
DOI: https://doi.org/10.20535/1810-0546.2016.1.58874
Appears in Collections:Наукові вісті НТУУ «КПІ»: міжнародний науково-технічний журнал, № 1(105)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
15Чиж.pdf275.69 kBAdobe PDFThumbnail
View/Open
Show full item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.