1. ELAKPI
2. Наукова періодика
3. Наукові вісті КПІ: міжнародний науково-технічний журнал
4. 2016
5. Наукові вісті НТУУ «КПІ»: міжнародний науково-технічний журнал, № 1(105)

Title:	Спосіб визначення RMS опромінення зображення протяжного джерела методом мікрофотометрії
Other Titles:	Method of Determination of RMS Exposure of Extended Source Image by Microphotometry Способ определения RMS облучения изображения протяженного источника методом микрофотометрии
Authors:	Чиж, Ігор Генріхович Голембовський, Олександр Олексійович Chyzh, Igor G. Holembovsky, Oleksandr O. Чиж, Игорь Генрихович Голембовский, Александр Алексеевич
Keywords:	RMS зображення протяжного джерела RMS абераційної плями мікрофотометрія зображення джерела світла RMS image extended source RMS operating spots microphotometry image light source RMS изображения протяженного источника RMS аберрационного пятна микрофотометрия изображения источника света
Issue Date:	2016
Publisher:	НТУУ «КПІ»
Citation:	Чиж І. Г. Спосіб визначення RMS опромінення зображення протяжного джерела методом мікрофотометрії / І. Г. Чиж, О. О. Голембовський// Наукові вісті НТУУ «КПІ» : міжнародний науково-технічний журнал. – 2016. – № 1(105). – С. 124–130. – Бібліогр.: 7 назв.
URI:	https://ela.kpi.ua/handle/123456789/18161
DOI:	https://doi.org/10.20535/1810-0546.2016.1.58874
Appears in Collections:	Наукові вісті НТУУ «КПІ»: міжнародний науково-технічний журнал, № 1(105)

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.