https://ela.kpi.ua/handle/123456789/18161
Title: | Спосіб визначення RMS опромінення зображення протяжного джерела методом мікрофотометрії |
Other Titles: | Method of Determination of RMS Exposure of Extended Source Image by Microphotometry Способ определения RMS облучения изображения протяженного источника методом микрофотометрии |
Authors: | Чиж, Ігор Генріхович Голембовський, Олександр Олексійович Chyzh, Igor G. Holembovsky, Oleksandr O. Чиж, Игорь Генрихович Голембовский, Александр Алексеевич |
Keywords: | RMS зображення протяжного джерела RMS абераційної плями мікрофотометрія зображення джерела світла RMS image extended source RMS operating spots microphotometry image light source RMS изображения протяженного источника RMS аберрационного пятна микрофотометрия изображения источника света |
Issue Date: | 2016 |
Publisher: | НТУУ «КПІ» |
Citation: | Чиж І. Г. Спосіб визначення RMS опромінення зображення протяжного джерела методом мікрофотометрії / І. Г. Чиж, О. О. Голембовський// Наукові вісті НТУУ «КПІ» : міжнародний науково-технічний журнал. – 2016. – № 1(105). – С. 124–130. – Бібліогр.: 7 назв. |
URI: | https://ela.kpi.ua/handle/123456789/18161 |
DOI: | https://doi.org/10.20535/1810-0546.2016.1.58874 |
Appears in Collections: | Наукові вісті НТУУ «КПІ»: міжнародний науково-технічний журнал, № 1(105) |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.