Визначення товщини нанорозмірних плівок фотометричним методом
Вантажиться...
Дата
2022
Науковий керівник
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
КПІ ім. Ігоря Сікорського
Анотація
Вплив конструкторсько-технологічних факторів, зокрема, відхилення товщини нанорозмірного плазмоносійного шару від номінального значення, вносить невизначеність у вимірювання методом поверхневого плазмонного резонансу. Проведено експериментальне дослідження фотометричним методом спектрів пропускання, виміряні характеристики відбиття золотих плівок різної товщини методом поверхневого плазмонного резонансу та встановлено узгодженість з теоретичними розрахунками.
Опис
Ключові слова
поверхневий плазмонний резонанс, товщина нанорозмірних плівок
Бібліографічний опис
Григорчук, М. О. Визначення товщини нанорозмірних плівок фотометричним методом / М. О. Григорчук, Г. В. Дорожинська // XVIII Науково-практична конференція студентів, аспірантів та молодих вчених “Ефективність та автоматизація інженерних рішень у приладобудуванні”, 06-07 грудня 2022 р, м. Київ, Україна : збірник праць конференції. – Київ : КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2022. – С. 152-155. – Бібліогр.: 4 назви.