Оптико-електронна вимірювальна система класу шорсткості поверхні оптичних об’єктів
Вантажиться...
Дата
2020-06
Науковий керівник
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
КПІ ім. Ігоря Сікорського
Анотація
Дипломний проект на тему «Оптико-електронна вимірювальна система
класу шорсткості поверхні оптичних об’єктів» складається з пояснювальної
записка обсягом 64 сторінки, 14 рисунків, 8 таблиць, 17 джерел літератури.
За технічним завдання до дипломного проекту було спроектувати оптико-
електронну вимірювальну систему, щоб користувач міг автоматично з
застосуванням програмного забезпечення та вимірювальної системи визначати
клас шорсткості поверхні. У дипломі було проведено аналітичне дослідження
методів визначення класу шорсткості. А саме, растровий метод, метод
світлового та тіньового світіння, мікроінтерференційний метод та
логарифмічний метод. Хочемо зазначити, що більшість методів визначення
шорсткості об’єкту базується на методах оптичної мікроскопії. Тому для
побудови вимірювальної системи визначення класу шорсткості поверхні ми
обрали за основу оптичний метод. У роботі проведено аналітичний огляд
приладів та систем аналогів для визначення шорсткості поверхні. А саме, ми
розглянули пристрій для вимірювання оптичний прозорих об’єктів, пристрій
для визначення шорсткості, станцію для контролю шорсткості і контуру
поверхні Homm el Tester T8000 та вимірювач шорсткості поверхні MicroProf
200. Ми розглянули переваги та недоліки кожної з систем або приладів аналогів
та визначились, що оберемо за основу для проектування власної вимірювальної
системи.
Проектування власної системи ми розпочали з побудови структурної
схеми вимірювальної системи та визначення складових вузлів. Було вибрано та
обґрунтовано наступні вузли: камери з ПЗЗ матрицею, оптична система або
пристрій, світлові фільтри, джерело живлення, джерело освітлення, програма
для захоплення відеозображення. На основі цих вузлів спроектовано
лабораторний стенд оптико-електронної вимірювальної системи класу
шорсткості поверхні. Перед початком вимірювання, нами виконано
експериментальні дослідження характеристик вимірювального стенду (оптико-
електронної системи), а саме, дослідження світлосигнальної характеристики та
спектральної характеристики.
У дипломному проекті проведено аналіз вимог для точності вимірювання
оптико-електронною вимірювальною системою. Виконано розрахунок
енергетичної освітленості поверхні об’єкту дослідження, тобто поверхні для
якої визначаємо клас шорсткості. Експериментальним шляхом досліджено
освітленість поверхні об’єкту вимірювання у два різні способи (з
застосуванням фотометру та з застосування м люксметру). Фотометр ми
спроектували та зібрали власноруч, а от люксметр ми обрали для вимірювання
готовим до вимірювання. Після чого отримані експериментальним шляхом
результати освітленості поверхні об’єкту дослідження ми порівняли.
У дипломній роботі бакалавра ми виконали підбір та обґрунтування
об’єктів, що будемо використовувати у якості тестових. Ми зазначили, що для
забезпечення правильної роботи та підтвердження цього факту ми обрали
еталонний тест -об’єкт мікрометричного розміру, а саме штрихову міру за
ГОСТ. На спроектованому лабораторному варіанті оптико-електронної
вимірювальної системи ми провели ряд досліджень з зразком (скло з
шорохуватою поверхнею). Ми прописали методику дослідження та визначення
класу шорсткості поверхі, що проробили експериментальним шляхом та навели
результати цих досліджень у дипломні й роботі.
До дипломного проекту було виконано пакет креслень згідно до
технічного завдання дипломного проекту бакалавра.
Опис
Ключові слова
шорсткість, клас шорсткості вимірювальна система, roughness, roughness class measuring system
Бібліографічний опис
Тимко, О. О. Оптико-електронна вимірювальна система класу шорсткості поверхні оптичних об’єктів : дипломний проект ... бакалавра : 152 Метрологія та інформаційно-вимірювальна техніка / Тимко Олександр Олександрович. – Київ, 2020. – 75 с.