Problems of surface topography measurement after wear process

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorDzierwa, Andrzej
dc.contributor.authorStelmakh, Natalia
dc.date.accessioned2020-05-14T16:44:59Z
dc.date.available2020-05-14T16:44:59Z
dc.date.issued2020-05
dc.format.pagerangeC. 35-36uk
dc.identifier.citationDzierwa, A. Problems of surface topography measurement after wear process / Andrzej Dzierwa, Natalia Stelmakh // XІХ Міжнародна науково-технічна конференція «Приладобудування: стан і перспективи», 13-14 травня 2020 р., Київ, Україна : збірник матеріалів конференції. – Київ : КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2020. – С. 35–36.uk
dc.identifier.urihttps://ela.kpi.ua/handle/123456789/33459
dc.language.isoenuk
dc.publisherКПІ ім. Ігоря Сікорськогоuk
dc.publisher.placeКиївuk
dc.sourceXІХ Міжнародна науково-технічна конференція «Приладобудування: стан і перспективи», 13-14 травня 2020 р., Київ, Україна: збірник матеріалів конференції.uk
dc.subjectsurfaces textureuk
dc.subjectsurface geometry measurementuk
dc.subjectsurface topography measurementuk
dc.subjectwear measurementuk
dc.subject.udc621.891:669.018uk
dc.titleProblems of surface topography measurement after wear processuk
dc.typeArticleuk

Файли

Контейнер файлів
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
P.35-36.pdf
Розмір:
161.94 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Опис:
Завантажити
Ліцензійна угода
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
9.06 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Зібрання

Секція 3. Комп’ютерно-інтегровані технології виробництва приладів