Нанотемплети для гетероструктур нітридів III групи
dc.contributor.advisor | Осінський, Володимир Іванович | |
dc.contributor.author | Суховій, Ніна Олегівна | |
dc.date.accessioned | 2018-11-09T17:12:10Z | |
dc.date.available | 2018-11-09T17:12:10Z | |
dc.date.issued | 2018 | |
dc.description.abstractuk | Дисертаційна робота присвячена комплексному дослідженню застосувань і розробок технологічних рішень щодо формування нанотемплетів для гетероструктур ІІІ-нітридів, в тому числі з неполярною кристалографічною орієнтацією, щодо забезпечення малодефектності і можливості одержання наноструктур (наностержнів, квантових точок, тощо) для їх практичної реалізації в оптоелектронних інтегральних схемах. В ході досліджень для нітрид галію неполярної (112̅0) орієнтації з використанням нанотемплетів анодованого оксиду алюмінію на Si(100) одержано щільність дислокацій 3х106 см-2, що дає змогу формувати InGaN/GaN КЯ і КТ з підвищеним вмістом індію. Згідно запропонованої спрощеної математичної моделі, встановлено, що може бути забезпечена низька щільність дислокацій при будь-якій глибині пір при радіусах пір < 10 нм, одержання яких за допомогою нанотемплетів анодного оксиду алюмінію дуже проблематично. Проте, для MOCVD епітаксії були експериментально визначені термодинамічні параметри (температура, тиск) та прекурсори, при яких на поверхні сапфіру утворюються нанопори з радіусом <10нм. На одержаних темплетах нанотекстурованого сапфіру була показана можливість в одному технологічному циклі вирощувати гетероепітаксійні шари ІІІ-нітридів з низькою щільністю дислокацій (~ 5 х 106 см-2). Ключові слова: нанотемплети, гетероструктури, нітриди ІІІ групи, малодефектність, анодований оксид алюмінію. | uk |
dc.format.page | 130 с. | uk |
dc.identifier.citation | Суховій, Н. О. Нанотемплети для гетероструктур нітридів III групи : дис. … канд. техн. наук : 05.27.01 – твердотільна електроніка / Суховій Ніна Олегівна. – Київ, 2018. – 130 с. | uk |
dc.identifier.uri | https://ela.kpi.ua/handle/123456789/24998 | |
dc.language.iso | uk | uk |
dc.publisher.place | Київ | uk |
dc.subject | нанотемплети | uk |
dc.subject | гетероструктури | uk |
dc.subject | нітриди ІІІ групи | uk |
dc.subject | малодефектність | uk |
dc.subject | анодований оксид алюмінію | uk |
dc.subject | nanotemplate | uk |
dc.subject | heterostructures | uk |
dc.subject | nitrides of the III group | uk |
dc.subject | little defect | uk |
dc.subject | anodized aluminum oxide | uk |
dc.subject | photodetectors | uk |
dc.subject | нанотемплеты | uk |
dc.subject | гетероструктуры | uk |
dc.subject | нитриды III группы | uk |
dc.subject | малодефектность | uk |
dc.subject | анодированный оксид алюминия | uk |
dc.subject.udc | 621.382+621.383]:546.2(0.43.3) | uk |
dc.title | Нанотемплети для гетероструктур нітридів III групи | uk |
dc.type | Thesis Doctoral | uk |
Файли
Контейнер файлів
1 - 1 з 1
Вантажиться...
- Назва:
- Sukhoviii_diss.pdf
- Розмір:
- 4.13 MB
- Формат:
- Adobe Portable Document Format
- Опис:
Ліцензійна угода
1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
- Назва:
- license.txt
- Розмір:
- 7.74 KB
- Формат:
- Item-specific license agreed upon to submission
- Опис: