Фізичні основи сцинтиляційного методу при вимірюванні іонізуючого випромінювання

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorШвалюк, Є. П.
dc.date.accessioned2025-09-16T11:08:53Z
dc.date.available2025-09-16T11:08:53Z
dc.date.issued2025
dc.format.pagerangeC. 169-173
dc.identifier.citationШвалюк, Є. П. Фізичні основи сцинтиляційного методу при вимірюванні іонізуючого випромінювання / Швалюк Є. П. // XXІV Міжнародна науково-технічна конференція "Приладобудування: стан і перспективи", 13-14 травня 2025 р., м. Київ, Україна : збірник матеріалів конференції. – Київ : КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2025. – С. 169-173. – Бібліогр. 2 назви.
dc.identifier.urihttps://ela.kpi.ua/handle/123456789/76056
dc.language.isouk
dc.publisherКПІ ім. Ігоря Сікорського
dc.publisher.placeКиїв
dc.relation.ispartofХХІV Міжнародна науково-технічна конференція «Приладобудування: стан і перспективи», 13-14 травня 2025 р., Київ, Україна: збірник матеріалів конференції.
dc.subjectсцинтилятор
dc.subjectконверсійна ефективність
dc.subjectсвітловий вихід
dc.subjectчас висвічування
dc.subjectіонізуюче випромінювання
dc.subject.udc539.1.073
dc.titleФізичні основи сцинтиляційного методу при вимірюванні іонізуючого випромінювання
dc.typeArticle

Файли

Контейнер файлів
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
169-173.pdf
Розмір:
205.44 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Завантажити
Ліцензійна угода
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
8.98 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Зібрання

Приладобудування: стан і перспективи (24 ; 2025 ; Київ)