Основи метрології. Прикладні аспекти. Вимірювання та моделювання. Конспект лекцій

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorПавлов, Леонід Миколайович
dc.date.accessioned2024-05-07T13:53:18Z
dc.date.available2024-05-07T13:53:18Z
dc.date.issued2024
dc.format.extent177 с.
dc.identifier.citationПавлов, Л. М. Основи метрології. Прикладні аспекти. Вимірювання та моделювання. Конспект лекцій [Електронний ресурс] : навчальний посібник для здобувачів ступеня бакалавр за освітньою програмою «Інформаційнообчислювальні засоби радіоелектронних систем» спеціальності 172 «Електронні комунікації та радіотехніка» / Павлов Л. М. ; КПІ ім. Ігоря Сікорського. – Електронні текстові дані (1 файл: 10,51). – Київ : КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2023. – 177 с. – Назва з екрана.
dc.identifier.orcid0000-0001-8273-9607
dc.identifier.urihttps://ela.kpi.ua/handle/123456789/66679
dc.language.isouk
dc.publisherКПІ ім. Ігоря Сікорського
dc.publisher.placeКиїв
dc.titleОснови метрології. Прикладні аспекти. Вимірювання та моделювання. Конспект лекцій
dc.typeLearning Object

Файли

Контейнер файлів
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
Osnovy_metrolohii_Prykladni_aspekty.pdf
Розмір:
10.51 MB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Завантажити
Ліцензійна угода
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
8.98 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Зібрання

Навчально-методичні матеріали (КЕОА)