Визначення області інтересу фотометричних зображень методами глибинного навчання

dc.contributor.authorНагорний, А. І.
dc.contributor.authorБезуглий, М. О.
dc.date.accessioned2021-07-22T17:42:06Z
dc.date.available2021-07-22T17:42:06Z
dc.date.issued2021-05
dc.event.date2021-05-18uk
dc.event.placeм. Київ, Українаuk
dc.format.pagerangeC. 119-120uk
dc.identifier.citationНагорний, А. І. Визначення області інтересу фотометричних зображень методами глибинного навчання / Нагорний А. І., Безуглий М. О. // XХ Міжнародна науково-технічна конференція “Приладобудування: стан і перспективи”, 18 – 19 травня 2021 р., Київ, Україна : збірник матеріалів конференції. – Київ : КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2021. – С. 119–120. – Бібліогр.: 2 назви.uk
dc.identifier.urihttps://ela.kpi.ua/handle/123456789/42647
dc.language.isoukuk
dc.publisherКПІ ім. Ігоря Сікорськогоuk
dc.publisher.placeКиївuk
dc.sourceXХ Міжнародна науково-технічна конференція “Приладобудування: стан і перспективи”, 18 – 19 травня 2021 р., Київ, Україна : збірник матеріалів конференціїuk
dc.subjectфотометричне зображенняuk
dc.subjectеліпсоїдальний рефлекторuk
dc.subject.udc535.2 : 004.93.12uk
dc.titleВизначення області інтересу фотометричних зображень методами глибинного навчанняuk
dc.title.event“Приладобудування: стан і перспективи”, XХ Міжнародна науково-технічна конференціяuk
dc.typeArticleuk

Файли

Контейнер файлів
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Вантажиться...
Ескіз
Назва:
PSP-XX_2021_p119-120.pdf
Розмір:
262.72 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Опис:
Ліцензійна угода
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
9.01 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис: