Підхід до побудови тестів перевірки цифрових пристроїв на надвеликих інтегральних схемах
Вантажиться...
Дата
2012
Автори
Науковий керівник
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
Institute of Special Communication and Information Protection of National Technical University of Ukraine “Igor Sikorsky Kyiv Polytechnic Institute”
Анотація
Розглядається проблема скорочення перебору при побудові повних тестів перевірки цифрових пристроїв, розроблених із використанням надвеликих інтегральних схем. Процес побудови тесту для заданої несправності приводиться до вигляду пошуку термінальної вершини в дереві призначення сигналів. Для скорочення перебору пропонується застосовувати метод сфокусованого пошуку, розроблений як загальнотеоретичний метод пошуку рішення в системах продукційного типу. Описано результати експериментів із комбінаційними схемами.
Опис
Ключові слова
Бібліографічний опис
Куліков, B. Підхід до побудови тестів перевірки цифрових пристроїв на надвеликих інтегральних схемах / Куліков В. М. // Information Technology and Security. – 2012. – Vol. 1, Iss. 1 (1). – Pp. 83–92. – Bibliogr.: 13 ref.