Підвищення точності розпізнавальної системи скануючого зондового мікроскопа

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorКвасніков, В. П.
dc.contributor.authorКатаєва, М. О.
dc.date.accessioned2022-07-25T12:57:16Z
dc.date.available2022-07-25T12:57:16Z
dc.date.issued2022
dc.format.pagerangeC. 96-98uk
dc.identifier.citationКвасніков, В. П. Підвищення точності розпізнавальної системи скануючого зондового мікроскопа / Квасніков, В. П., Катаєва, М. О. // XХI Міжнародна науково-технічна конференція “Приладобудування: стан і перспективи”, 17–18 травня 2022 р., Київ, Україна : збірник матеріалів конференції. – Київ : КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2022. – С. 96-98. – Бібліогр.: 2 назви.uk
dc.identifier.urihttps://ela.kpi.ua/handle/123456789/49310
dc.language.isoukuk
dc.publisherКПІ ім. Ігоря Сікорськогоuk
dc.publisher.placeКиївuk
dc.sourceXХI Міжнародна науково-технічна конференція “Приладобудування: стан і перспективи”, 17–18 травня 2022 р., Київ, Україна : збірник матеріалів конференціїuk
dc.subjectнановимірюванняuk
dc.subjectдестабілізуючі факториuk
dc.subjectвипадкові процесиuk
dc.subject.udc531.7:62-2:629.7 (043.3)uk
dc.titleПідвищення точності розпізнавальної системи скануючого зондового мікроскопаuk
dc.typeArticleuk

Файли

Контейнер файлів
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
PSP-XXI_2022_p96-98.pdf
Розмір:
308.73 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Опис:
Завантажити
Ліцензійна угода
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
1.71 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Зібрання

Приладобудування: стан і перспективи (21 ; 2022 ; Київ)