Метод електронної мікроскопії для дослідження топології інтегральних схем

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.advisorВерцанова, Олена Вікторівна
dc.contributor.authorВорона, Артем Сергійович
dc.date.accessioned2024-06-26T11:43:52Z
dc.date.available2024-06-26T11:43:52Z
dc.date.issued2023
dc.description.abstractПроведено детальний аналіз топології інтегральних схем. Досліджено різноманітні архітектурні рішення та їх вплив на ефективність та функціональність ІС. Особлива увага приділена технологічним вирішенням та їх впливу на характеристики інтегральних схем. Проаналізовано існуючі методи дослідження інтегральних схем та даних, які можна отримати цими методами. Розглянуто сучасні підходи до реверсивної інженерії та використання електронної мікроскопії в електроніці. Описано методи виявлення та аналізу мікросхем, а також ролі електронної мікроскопії в забезпеченні точного визначення топології ІС. Проведено глибокий аналіз застосування скануючої електронної мікроскопії для аналізу топології інтегральних схем. Виокремлено переваги та обмеження цього методу, а також розглянуто приклади успішних досліджень, в яких використовувалася скануюча електронна мікроскопія.
dc.description.abstractotherA detailed analysis of the topology of integrated circuits is carried out. Various architectural solutions and their impact on the efficiency and functionality of ICs are investigated. Particular attention is paid to technological solutions and their impact on the characteristics of integrated circuits. The existing methods of studying integrated circuits and the data that can be obtained by these methods are analyzed. Modern approaches to reverse engineering and the use of electron microscopy in electronics are considered. Methods for detecting and analyzing microcircuits, as well as the role of electron microscopy in providing accurate determination of IC topology are described. An in-depth analysis of the use of scanning electron microscopy for analyzing the topology of integrated circuits is carried out. The advantages and limitations of this method are emphasized, and examples of successful studies in which scanning electron microscopy was used are considered.
dc.format.extent79 с.
dc.identifier.citationВорона, А. С. Метод електронної мікроскопії для дослідження топології інтегральних схем : магістерська дис. : 153 Мікро- та наносистемна техніка / Ворона Артем Сергійович. – Київ, 2023. – 79 с.
dc.identifier.urihttps://ela.kpi.ua/handle/123456789/67485
dc.language.isouk
dc.publisherКПІ ім. Ігоря Сікорського
dc.publisher.placeКиїв
dc.subjectелектронна мікроскопія
dc.subjectінтегральні схеми
dc.subjectелектронні компоненти
dc.subjectреверсивна інженерія
dc.subjectтопологія інтегральних схем
dc.subjectвізуалізація мікросхем
dc.subjectelectron microscopy
dc.subjectintegrated circuits
dc.subjectelectronic components
dc.subjectreverse engineering
dc.subjecttopology of integrated circuits
dc.subjectvisualization of microcircuits
dc.titleМетод електронної мікроскопії для дослідження топології інтегральних схем
dc.typeMaster Thesis

Файли

Контейнер файлів
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
Vorona_magistr.pdf
Розмір:
1.32 MB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Завантажити
Ліцензійна угода
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
8.98 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Зібрання

Магістерські роботи (МЕ)
Магістерські роботи